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走査型近接場光学顕微鏡
（SNOM：Scanning Near-field Optical Microscope）
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| プローブ先端に発生させた近接場光をサンプルに照射したり、サンプル表面に発生させた近接場光をプローブ先端で散乱させることで、局所的な光学特性を高分解能で測定します。 |
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●光ファイバーを先鋭化し、先端に数十nm程度の微小開口を設けた光プローブを使用します。
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プローブに光を導入し、プローブ先端に近接場の微小スポットを発生させてサンプルに照射し、光学特性を測定します。
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SIIナノテクで開発したベント型光プローブでは距離制御はDFMモードで行われるためサンプルの凹凸形状の同時測定が可能です。（SNOAM®：Scanning Near-field Optical/Atomic Force Microscopeまたは走査型近接場光学/原子間力顕微鏡）
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●シリコン製のカンチレバーに銀などの散乱体をコートします。
●外部から光を入射しサンプル表面に近接場光を発生させ、カンチレバーに設けた散乱体で散乱させて、光学特性を測定します。
●距離制御はDFMまたはコンタクトAFMモードで行われるためサンプルの凹凸形状の同時測定が可能です。
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SNOAM®の測定例 |
2本鎖DNA上の標識遺伝子観察 1) （イルミネーションモード）
 
2本鎖DNA全体とその中の特定の遺伝子をそれぞれ別の蛍光色素で標識し、ベント型光プローブにより蛍光像を測定しました。約50nmの分解能での特定の遺伝子を画像化することができました。
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ベント型光プローブ
【その他の用途】
●光学限界を超える分解能での光学イメージング
●局所分光分析
●バイオ、有機サンプルの蛍光測定
●CNT、半導体などの分光分析
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1)東京工科大学村松研究室、独立行政法人食品総合研究所計測工学研究室との共同研究
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