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走査型プローブ顕微鏡(SPM)
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半導体・エレクトロニクス
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[No.3] AFMピンセット
[No.4] 強誘電体薄膜への記録再生
[No.6] 電解質膜(ナフィオン)表面のガラス転移温度モニター
[No.8] LCDカラーフィルター
[No.9] 水晶振動子電極部膜厚/めっき表面粗さ
[No.15] 陽極酸化によるパターン形成
[No.17] 高分解能MFMによる高密度記録媒体の観察
[No.19] SISモードの紹介
[No.21] Conductive AFMによる相変化ディスク記録マークの観察
[No.22] 六角格子ネットワークの磁化構造
[No.24] 束縛のない単一磁壁の高分解能MFM観察
[No.25] DVD-RAMの記録マークのKFM観察
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