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トップ技術情報 > アプリケーション(電子デバイス)

 アプリケーション 電子デバイス

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 走査型プローブ顕微鏡
SPI No.50
MFM analysis of magnetization process in CoPt dot-array MFM analysis of magnetization process in CoPt dot-array
SPI No.36
SPMによる強誘電体薄膜への記録再生 SPMによる強誘電体薄膜への記録再生
SPI No.32
大型ステージユニットSPA-500によるハードディスクの磁気力顕微鏡(MFM)測定 大型ステージユニットSPA-500によるハードディスクの磁気力顕微鏡(MFM)測定
SPI No.31
大型ステージユニットSPA-500によるGMRヘッドの磁気力顕微鏡(MFM)測定 大型ステージユニットSPA-500によるGMRヘッドの磁気力顕微鏡(MFM)測定
SPI No.22
ダブルコーティング・ビデオテープのMFM観察 ダブルコーティング・ビデオテープのMFM観察
SPI No.08
Siウェハ上のCOP・異物観察 Siウェハ上のCOP・異物観察
SPI No.07
シリコン単原子ステップの観察 シリコン単原子ステップの観察
NPX No.25
原子間力顕微鏡(AFM)と電子顕微鏡(SEM)の画像の比較T(Nanopics) 原子間力顕微鏡(AFM)と電子顕微鏡(SEM)の画像の比較T(Nanopics)
NPX No.24
液晶配向膜成膜条件の評価(Nanopics) 液晶配向膜成膜条件の評価(Nanopics)
NPX No.23
高性能ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) 高性能ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics)
NPX No.21
Pbフリー半田めっきの表面粗さ(Nanopics) Pbフリー半田めっきの表面粗さ(Nanopics)
NP XNo.19
液晶ディスプレイ製作工程評価(Nanopics) 液晶ディスプレイ製作工程評価(Nanopics)
NPX No.08
アルミニウム基盤の研磨処理(Nanopics) アルミニウム基盤の研磨処理(Nanopics)
NPX No.07
ボンディング不良電極端子めっき表面の形状評価(Nanopics) ボンディング不良電極端子めっき表面の形状評価(Nanopics)
NPX No.06
液晶パネル用ガラス(Nanopics) 液晶パネル用ガラス(Nanopics)
NPX No.05
サーマルプリンタヘッドと用紙(Nanopics) サーマルプリンタヘッドと用紙(Nanopics)
NPX No.04
ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics)

 集束イオンビーム
SMI No.03
NEW 最新デバイスのSIM像断面 最新デバイスのSIM像断面
SMI No.01
NEW EガスとAutoBitmapソフトウェアを用いたLSI平坦化加工テクニック EガスとAutoBitmapソフトウェアを用いたLSI平坦化加工テクニック
FIB No.06
低加速モード加工 PDF Download
FIB No.05
高倍率の観察 PDF Download
FIB No.04
マルチガスシステムの応用 PDF Download
FIB No.03
TEM試料作製 PDF Download

 ICP分析
ICP No.39
ICP発光分光分析法による固体試料直接分析法(レーザーアブレーションによる分析) ICP発光分光分析法による固体試料直接分析法(レーザーアブレーションによる分析)
ICP No.19
ICP発光分光分析法によるサマリウム−コバルト磁性体の分析 ICP発光分光分析法によるサマリウム−コバルト磁性体の分析

 

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