| プローブ顕微鏡 |
SPINo.07 |
シリコン単原子ステップの観察 |
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SPINo.08 |
Siウェハ上のCOP・異物観察 |
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SPINo.22 |
ダブルコーティング・ビデオテープのMFM観察 |
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SPINo.31 |
大型ステージユニットSPA-500によるGMRヘッドの磁気力顕微鏡（MFM）測定 |
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SPINo.32 |
大型ステージユニットSPA-500によるハードディスクの磁気力顕微鏡（MFM）測定 |
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SPINo.36 |
SPMによる強誘電体薄膜への記録再生 |
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SPINo.50 |
MFM
analysis of magnetization process in CoPt dot-array |
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NPXNo.04 |
ポリイミドフィルムの表面処理評価（Nanopics） |
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NPXNo.05 |
サーマルプリンタヘッドと用紙（Nanopics） |
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NPXNo.06 |
液晶パネル用ガラス（Nanopics） |
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NPXNo.07 |
ボンディング不良電極端子めっき表面の形状評価（Nanopics） |
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NPXNo.08 |
アルミニウム基盤の研磨処理（Nanopics） |
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NPXNo.19 |
液晶ディスプレイ製作工程評価（Nanopics） |
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NPXNo.21 |
Pbフリー半田めっきの表面粗さ（Nanopics） |
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NPXNo.23 |
高性能ポリイミドフィルムの表面処理評価（Nanopics） |
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NPXNo.24 |
液晶配向膜成膜条件の評価（Nanopics） |
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NPXNo.25 |
原子間力顕微鏡（AFM）と電子顕微鏡（SEM）の画像の比較Ⅰ（Nanopics） |
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