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海外販売拠点

国名	代理店/販売店	取扱製品
中国香港	SII NanoTechnology (Shanghai) Inc. (本社) Rm. 101, No. 9, 690 Bibo Rd., Zahngjiang Hi-Tech Park Shanghai, 201203, P.R.China Tel: +86-21-5027-3533,2156 Fax: +86-21-5027-3733	全製品
	SII NanoTechnology (Shanghai) Inc. Beijing Office East Ocean Centre 19F 1909 24 Jianguomen Wai Ave, Chaoyang District, Beijing 100-004, P.R. China Tel: +86-10-6515-5693/5695 Fax: +86-10-6515-5698
	SII NanoTechnology (Shanghai) Inc. Dongguan Office 4F Jinye Bldg, No.82 E.Changqing Rd., ChangAn Town, Dongguan, Guangdong 523-835, P.R. China Tel: +86-769-8584-5871/5872 Fax: +86-769-8584-5870
	Start Science & Technology Development (Beijing) Co., Ltd. 3-1-9B in.do Mansion, No.48 Zhinchun Road A, Haidian District Beijing, 100086 P.R. China Tel: +86-10-5873-1370 (1,2,3,5,6) FAx: +86-10-5873-1378	プローブ顕微鏡
	Intec International (Beijing) Co., Ltd 2003, 20F Zhu Bang 2000 Chief Business Center.1 No.100 Balizhuang Xi Li, Chao Yang District, Beijing, 100025 P.R.China Tel: +86-10-8586-8011/8012 Fax: +86-10-8586-8009	蛍光X線分析膜厚測定
	Intec International (Shanghai) Co., Ltd 912, 9F Shang Hai Xiandai Jiaotong Shangwu Building, West No.218 Hengfeng Road Zhabei District Shanghai, 200070 P.R.China Tel: +86-21-5128-6882, 6997 Fax: +86-21-5128-6883	蛍光X線分析膜厚測定
	Sai Si Meng Instruments Inc. Rm A1105,century trade building,No.72 North XiSanHuan Road, HanDian district Beijing 100037, China Tel: +86-10-5179-9159 Fax: +86-10-5179-9160	熱分析
台湾	TechMax Technical Co., Ltd. 5F., No.11, Wucyuan 2nd Rd., Wugu Township, Taipei County 248, Taiwan Tel: +886-2-8990-1779 Fax: +886-2-8990-2559	蛍光X線分析熱分析
	LeadinWay Co., Ltd. 2Fl.,No.46,Shianjeng 5th St., JubeiCity, Hsinchu, 300 Taiwan, R.O.C Tel:+886-3-6560883 Fax:+886-3-6564486	集束イオンビーム走査イオン顕微鏡フォトマスクリぺア膜厚測定
	LeadinWay Co., Ltd. Tainan Office No.306-3, Yusin Rd., East District Tainan City 70163, Taiwan, R.O.C Tel:+886-6-3316050 Fax:+886-6-3316051	集束イオンビーム走査イオン顕微鏡フォトマスクリぺア膜厚測定
	Advantage Scientific, Inc. 11F-6, No.268, Lien-Chen Rd., Chung-Ho City, Taipei Hsein, Taiwan 235, R.O.C. (P.O. Box: 4-150 Chung-Ho, Taipei Hsien) Tel: +886-2-8227-3456 Fax: +886-2-8227-3000	プローブ顕微鏡
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
韓国	ASI Korea co., Ltd. Woolim Lions Vally A-906, #371-28 Kasan-Dong, Kumchon-ku Seoul, 150-834, Korea Tel: +82-2-2026-0600 Fax: +82-2-2026-0136	蛍光X線分析膜厚測定
	ASI Korea co., Ltd. Busan Branch 2F 85-3 Namsan Dong Keumjung Busan Korea 609-811 Tel: +82-51-514-6009 Fax: +82-51-514-6098	蛍光X線分析膜厚測定
	NITECH Room #1737, Yongbiacheonga Officetel., 75 Naesudong, Jongloku, Seoul, Korea 110-070 Tel: +82-02-941-4693 Fax: +82-02-913-4693	プローブ顕微鏡
	Nano Fine Tech Corp. Woo Jin B/D 202, 1445-2, Seocho-Dong, Seocho-Gu, Seoul 137-070, Korea Tel: 82-2-525-3381, 2 Fax: 82-2-525-3340	集束イオンビーム走査イオン顕微鏡フォトマスクリぺア
	CHP Trading Ltd. 210-ho, 8-dong, Anyang International Distribution Complex 555-9 Hogye-Dong, Dongan-Gu, Anyang-Si, Kyunggi-Do, 431-763, Korea Tel: +82-31-479-7797 Fax: +82-31-479-7798	熱分析
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
フィリピン	Edgeworth Laguna Inc. Unit D, Lot 5 #121 East Main Avenue, Laguna Technopark-Special Economic Zone Binan, Laguna 4024 Philippines Tel: +63-49-5441111 Fax: +63-49-5442222	蛍光X線分析膜厚測定
フィリピン	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
タイ	QES (Thailand) Co. Ltd. 123/800 Navamin Rd., Kwaeng Kannayao, Khet Kannayao, Bangkok 10230 Thailand Tel: +66-2-9487174~8 Fax: +66-2-9487180	蛍光X線分析膜厚測定
	LMS Instruments Co. Ltd. 128/73 Phyathai Plaza Bldg,7th Fl., Phyathai Rd, Thung-Phyathai, Radthavee, Bangkok 10400, Thailand Tel: +662-612-9091, 2 Fax: +662-612-9093	プローブ顕微鏡
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
マレーシア	QES (Asia-Pacific) SDN. BHD. Wisma QES, No.6, Jalan USJ 9/5P, UEP Subang Jaya, 47620, Selangor, Malaysia Tel: +60-3-8024-1188 Fax: +60-3-8024-4488	蛍光X線分析膜厚測定
	QES (Asia-Pacific) SDN. BHD. Penang Office No.19 Tingkat Bukit Jambul, 11950 Penang, West Malaysia Tel: +604-644-5891 Fax: +604-644-7702	蛍光X線分析膜厚測定
	QS INSTRUMENTS SDN BHD QES (Asia-Pacific) Sdn. Bhd, Wisma QES, No.6, Jalan USJ 9/5P, UEP Subang Jaya, 47620, Selangor, Malaysia Tel: +60-3-8023-2288 Tel: +60-3-8023-2098 Fax: +60-3-8023-4811	プローブ顕微鏡
	Labright (M) Sdn. Bhd. No. 30-B (3rd Floor), Jalan SS25/22, Taman Mayang, 47301 Petaling Jaya, Selangor D.E., Malaysia. Tel: 603-7880 2262 Fax: 603-7880 2260	熱分析
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
シンガポール	Seiko Instruments Singapore Pte Ltd. (SIS) 2, Marsiling Lane Singapore 739144 Tel: +65-6365-5277 Fax:+65-6365-1353	蛍光X線分析
	NEXRAY PTE LTD. 627A, Aljunied Road, #08-07 BizTech Centre, Singapore 389842 Tel: +65-6741-6511 Fax: +65-6741-6411	膜厚測定
	LMS Technologies Pte Ltd. 6 Tagore Drive #04-05, Tagore Industrial Building Singapore 787625 Tel: +65-6451-1123 Fax: +65-6452-1011	プローブ顕微鏡
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
インドネシア	Seiko Instruments Singapore Pte Ltd. (SIS) 2, Marsiling Lane Singapore 739144 Tel: +65-6365-5277 Fax:+65-6365-1353	蛍光X線分析
	NEXRAY PTE LTD. 627A, Aljunied Road, #08-07 BizTech Centre, Singapore 389842 Tel: +65-6741-6511 Fax: +65-6741-6411	膜厚測定
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
インド	INKARP INSTRUMENTS PRIVATE LIMITED 1-2-45/1, Street No: 2, Kakateeya Nagar Colony, Habsiguda, Hyderabad, 500007, Andhra Pradesh, India Tel: + 91-40-27112293/ 2717-5088 Fax: +91-40-2715-4686	プローブ顕微鏡熱分析
インド	MULTIFLO INSTRUMENTS PVT. LTD. 232, Bharat Industrial Estate, L.B.S. Marg, Bhandup West Mumbai 400078, India Tel: 91-22-25963397 /25963079/25967909 Fax: 91-22-25671791 Tel/Fax: 91-22-25963673	蛍光X線分析膜厚測定
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
アメリカ	SII NanoTechnology USA Inc. 19865 Nordhoff Street Northridge, CA 91324, U.S.A. Tel: +1-818-280-0745	蛍光X線分析膜厚測定
	Beam Services, Inc. 6960 Koll Center Parkway, Ste 305 Pleasanton, CA 94566 Tel: +1-925-462-8800	フォトマスクリペア
	Eastern Applied Research, Inc. 6100 Fisk Road Lockport, NY 14094 Tel: +1-716-625-8311	蛍光X線分析膜厚測定
	Carl Zeiss SMT Inc. One Corporation Way, Peabody Massachusetts 01960 USA Tel: +1-978-826-7909 Fax: +1-978-532-5696	集束イオンビーム
	KLA Tencor Corporation 160 Rio Robles San Jose, CA 95134 U.S.A Tel: +1-408-875-5705 Fax: +1-408-428-9555	ナノピクス
	RT Instruments, Inc. 10 N. East St., Ste. 106, Woodland, CA 95776, USA Tel: +1-530-666-6700 Fax: +1-530-662-2875	熱分析
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
ヨーロッパ	Seiko Instruments GmbH Siemensstrasse 9B, 63263 Neu-Isenburg, Germany Tel: +49-6102-2970	蛍光X線分析
	Carl Zeiss NTS GmbH Carl-Zeiss-Strasse 56 73447 Oberkochen Germany Tel: +49 73 64 20-44 88 Fax: +49 73 64 20-43 43	集束イオンビーム
	Thermal Analysis & Surface Science GmbH Pfingstweide 21, 61169 Friedberg Germany Tel: +49-6031-16223-21 Fax: +49-6031-16223-29	熱分析
	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073	その他
その他	SII NanoTechnology Inc. RBM Tsukiji Bldg. Shintomi 2-15-5, Chuo-ku Tokyo 104-0041, Japan Tel: +81-3-6280-0066 Fax: +81-3-6280-0073

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