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高速マッピング機能搭載の蛍光X線分析装置(X線分析顕微鏡)
SEA6000VX-HSFinder-
部品を分解しない状態での特定部位に絞った微小部の測定や、基板全面に渡る有害物質の管理など、従来の装置では対応が困難な要求も高速マッピング機能搭載のSEA6000VX HSFinder (エイチエスファインダー)では可能になりました。
以下のリンクより、SEA6000VXの特長がご覧いただけます。 |
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動画で見るSEA6000VXの特長 |
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1. サンプルセッティング
基板サンプルのセッティングの様子を紹介します。 |
| (18秒) |
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2. オートアプローチ機能
検出器と試料位置調整のオートアプローチ機能を紹介します。 |
| (33秒) |
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3. 拡大しても鮮明な光学像
光学像での広域からの測定位置指定の様子を紹介します。
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| (29秒) |
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4. 高速マッピング測定
世界最速レベルの二次元元素マッピング機能を紹介します。 |
| (1分35秒) |
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5. 連続多点測定
複数の試料を一度に測定する連続多点測定機能を紹介します。 |
| (35秒) |
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SEA6000VXのアプリケーション(測定事例)
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SEA6000VX 製品仕様 |
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