| 概要 |
SFT9000シリーズの最高機種「SFT9455」は、75WハイパワーX線管とデュアル検出器（半導体検出器＋比例計数管）を搭載し、「薄膜」・「合金膜」・「極微小部測定」等のめっき膜厚測定ニーズのすべてに応える高性能膜厚計です。また、「SFT9455」はめっき膜厚測定機能に加えて、異物の定性分析や材料の成分分析にもご利用頂けます。 |
| 特長 |
1．デュアル検出器（半導体検出器＋比例計数管）搭載: X線のエネルギー分解能に優れた半導体検出器（液化窒素不要）と計数率に優れた比例計数管の両方を搭載し、アプリケーションに応じて使い分けできます。特に半導体検出器は、NiとCuのようなエネルギーが近接した元素をそれぞれ弁別できることから、以下の特長があります。
• Ni/CuやAu/Ni/Cuは、二次フイルターなしで測定が行えます。
• Br入りプリント板の場合は、Brの干渉を受けない高精度のAuメッキ厚測定ができます。
• 0.01μm以下の極薄Auメッキを測定できます。
2．薄膜FPソフト: 鉛フリーはんだを含む合金メッキや多層メッキ等、幅広いアプリケーションに対応できます。
3．極微小部の測定対応
15μmΦのコリメータを標準搭載し、極微小部のメッキ厚測定に威力を発揮します。
4. 75WハイパワーX線管球を搭載。
5. 微小領域の観察も容易。4段階に切り替えられるズーム機能を搭載。
6. 大型プリント基板も測定可能な大型ステージ。
7. 落射照明により従来見難かった試料を見やすく。
8. 凹凸のある試料も安心な衝突防止センサーを搭載。
9. サーボモータによる高精度ステージ駆動。
10. 正確な焦点合わせ
測定試料の焦点合わせはレーザーによりワンタッチで正確に行えます。
11. 報告書ソフト
マクロソフトにより、測定データを簡単に報告書として作成できます。 |
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