透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡
FIB-SEMダブルビーム装置 NVision 40

品名	FIB-SEMダブルビーム装置

型式	NVision 40

概要	100mm以下の試料に対応したラボ用の装置として、材料分析、半導体、ライフサイエンスなど広い分野で最先端の研究開発に利用することを想定して設計された、Carl Zeiss社との共同開発製品です。Carl Zeiss社製SEM鏡筒とSIIナノテク製FIB鏡筒の組み合わせにより、ハイパフォーマンスを実現。