Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 アプリケーション 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
製品情報
製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
走査型プローブ顕微鏡(SPM)製品ラインナップ
走査型プローブ顕微鏡(SPM) スペシャルコンテンツ
取り扱いカンチレバー一覧表
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の歴史
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の原理解説
走査型プローブ顕微鏡(SPM)のアプリケーションデータ
走査型プローブ顕微鏡(SPM)のデータギャラリー
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の国際学会発表ポスター
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の参考文献リスト
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の用語集
走査型プローブ顕微鏡(SPM)セミナーレビュー
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア(MDP)
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
価格問い合わせ
価格問い合わせフォーム
消耗品価格表
予算申請用カタログ
販売チャネル
製品の安全点検について
試験所

 Nano/Pico Current AFM


原理: 試料にバイアス電圧を印加し、導電性探針を通して流れる電流をI/Vアンプによって計測し、画像化します。

 

Nano/Pico Current Microscope


測定した電流マッピング画像の任意の場所でIVカーブ(電流-電圧特性)を測定することが可能です。

Nano/Pico Current AFMの原理解説

■標準タイプ:108V/Aアンプ

 

計測範囲: 0.1nA〜100nA
電流分解能: 5pA RMS
■低電流タイプ:1011V/Aアンプ
  計測範囲: 0.1pA〜100pA 
電流分解能: 100fA RMS 以下

 

【Nano/Pico Current AFMの用途】
●電子デバイスなどの電気特性評価
●電子材料、強誘電体膜などのリーク電流評価(絶縁性評価)

 

 Nano/Pico Current AFMの適用例


 試料:DVD-RAM

形状像
電流像
DVD-RAMの測定例

 

DVD-RAMの保護層を剥がし、バイアス電圧1Vで測定した電流像。
記録マークのアモルファス相には電流が流れていません。


 


 試料:強誘電体薄膜

形状像と電流像の重ね合わせ例

強誘電体薄膜のリーク箇所の同定 どの場所でリークしているか一目でわかります。


 

 

走査型プローブ顕微鏡(SPM)トップページ
SIIホーム
■ サイトのご利用について   ■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ  
Copyright © 2012 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.