Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 技術情報 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
製品情報
製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア(MDP)
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
価格問い合わせ
価格問い合わせフォーム
消耗品価格表
技術情報
販売チャネル
試験所

 摩擦力顕微鏡(FFM: Friction Force Microscope)


原理: カンチレバーがねじれる方向に走査したときのねじれ変位から摩擦力分布を画像化します。



FFM/摩擦力顕微鏡



Y軸のプラス側に探針を走査した場合、ねじれ変位(FFM信号)はプラス側に傾き、摩擦が大きいほどFFM信号も大きくなります。
Y軸のマイナス側に走査した場合は、ねじれ変位はマイナス側になり、摩擦が大きいほどFFM信号は小さくなります。


摩擦力顕微鏡(PM)の原理解説

【FFMの用途】
●高分子、金属材料、無機材料などの表面の摩擦特性マッピング
●フリクショナルカーブ解析による試料間の摩擦特性比較 
温度スウィープにおける表面転移計測

 

 摩擦力顕微鏡モード(FFM)と横振動摩擦力顕微鏡(LM-FFM)の適用例


  ポリスチレン上のシリコン系油膜の摩擦力分布測定 (約2.5µm)

 
形状像
FFM像
LM-FFM像
摩擦力分布測定例


シリコン系油膜の摩擦力はポリスチレンより小さいことがわかります。
LM-FFMのほうがFFMよりも凹凸の影響を受けていないことがわかります。

 

 

 

走査型プローブ顕微鏡(SPM)トップページ
SIIホーム
■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.