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 磁気力顕微鏡(MFM:Magnetic Force Microscope)


原理: 磁性探針と試料磁界との磁気的作用によるカンチレバー振動の位相変化により磁気力勾配の分布を画像化します。

磁気力顕微鏡(MFM) 原理解説


●磁性探針は微小な棒磁石です。先端のS極(またはN極)と同極で斥力、異極で引力が作用します。
●磁気的引力、斥力作用はレバー振動の位相差で検出することができます。

MFMの原理

 

MFMの走査方法
●MFMは最初、表面形状信号をDFMで測定します(1st Scan)。
●同じラインを戻って、探針を一定距離離した非接触状態とし、1st Scanで記憶させた表面形状をトレースしながら、磁気力による位相変化を測定します(2nd Scan)。
●こうして、表面形状から常に同じ高さにおける磁気力の分布がわかります。

MFMの走査方法
MFMの走査方法

 

 磁気力顕微鏡(MFM:Magnetic Force Microscope)の適用例

 

 

 ナノスケール磁性体〜Y字型パーマロイ

表面形状像

MFM像

表面形状像とMFM像の
重ね合せ
Y

Y字型パーマロイ規則配列の磁気構造(東京農工大学 佐藤勝昭研究室とSIIナノテクとの共同研究)


 

 

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