Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 技術情報 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
製品情報
製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア(MDP)
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
価格問い合わせ
価格問い合わせフォーム
消耗品価格表
予算申請用カタログ
技術情報
販売チャネル
試験所

 走査型プローブ顕微鏡(SPM)


矢印 SPM用語集
インデックス(A〜Z):
B
G
I
J
Q
U
W
X
Y
Z
インデックス(50音):


矢印

フォースカーブ:AFM (Force Curve)

フォースカーブとは、探針・試料間の距離の上限・下限を設定して定点を上下動させ、探針・試料間の距離とカンチレバーに働く力(カンチレバーのたわみ量)との関係をプロットした曲線。AFM(原子間力顕微鏡)測定モードでは、フォースカーブを測定することにより引力・吸着力・試料の硬さ等の相互作用を見ることができる。 AFMのフォースカーブ測定では、探針・試料間の距離が数nm〜数十nmまで近づくと、はじめに引力が作用し次に斥力が作用する。さらに押し上げて、カンチレバーが上へたわんだ後離していくと、吸着力が作用して下へのたわみが発生する。そのたわみによる力が吸着力を超えたとき、カンチレバーは水平な位置へ戻る。

 

関連用語 ≫ たわみ量

 

 

 

走査型プローブ顕微鏡(SPM)トップページ
SIIホーム
■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.