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 走査型プローブ顕微鏡(SPM)


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MFM (磁気力顕微鏡:Magnetic Force Microscope)

MFM (磁気力顕微鏡)とは、磁性コートしたカンチレバーと試料の間に働く磁気力(磁気力勾配)を測定して、試料表面の漏れ磁界分布を画像化するSPM(走査型プローブ顕微鏡)の一種。

【特徴】 ◆ハードディスクや磁気テープ等の記録状態の観察、磁性材料の磁区や磁壁の観察ができる。
  ◆真空中Q値制御(ActiveQ)と低モーメント探針を組み合わせることで高分解能化が可能。
   

 

 

 

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