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アプリケーション(分野別) |
【分野別
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モード別アプリケーションはこちらから
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| 原理 |
SP INo.1 |
走査型プローブ顕微鏡の基本測定モード |
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SPI No.63 |
SPMによるハイアスペクト形状測定 -マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測- |
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SPI No.64 |
FIB加工面の低加速Arイオンビーム仕上げによる低ダメージ効果のSPMによる検証 |
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NPX No.10 |
観察装置による情報の違い(Nanopics) |
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NPX No.13 |
小振幅DFMでの観察1(Nanopics) |
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NPX No.15 |
小振幅DFMでの観察2(Nanopics) |
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NPX No.16 |
オプションソフトを使用した薄膜評価(Nanopics) |
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NPX No.17 |
大きな試料の観察用ステージ(Nanopicis) |
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NPX No.18 |
校正プログラムご紹介(Nanopics) |
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| 生体 |
SPI No.2 |
走査型プローブ顕微鏡によるプラスミドDNAの観察 |
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SPI No.3 |
走査型プローブ顕微鏡によるヒト赤血球のDFM観察 |
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SPI No.4 |
コラーゲン細繊維のDFM観察 |
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SPI No.5 |
ラット繊毛切片のDFM観察 |
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SPI No.6 |
生きたガン細胞の直接観察 |
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SP INo.43 |
水中における毛髪の表面形状観察 |
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NPX No.14 |
人の毛髪と羊毛のキューティクル形状観察(Nanopics) |
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NPX No.22 |
染色体の形状観察(Nanopics) |
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| 電気計測 |
SPI No.7 |
シリコン単原子ステップの観察 |
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SPI No.8 |
Siウェハ上のCOP・異物観察 |
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SPI No.13 |
金属酸化膜のKFM観察 |
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SPI No.36 |
SPMによる強誘電体薄膜への記録再生 |
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SPI No.59 |
燃料電池への応用 |
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SPI No.60 |
鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ/基板の界面構造観察 |
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| 高分子 |
SPI No.9 |
SPMによる位相測定 |
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SPI No.10 |
LB膜のVE-AFM観察 |
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SPI No.11 |
ポリスチレン・シート上油膜のVE-AFM観察 |
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SPI No.12 |
塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御VE-AFM測定 |
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SPI No.14 |
FFM(摩擦力顕微鏡)とLM-FFM(横振動摩擦力顕微鏡)について |
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SPI No.15 |
フッ素樹脂塗膜のLM-FFM観察 |
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SP INo.16 |
プラスチック(PBT・ABSブレンド)表面のLM-FFM観察 |
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SPI No.17 |
ポリゴムとポリプロピレンの混合物のLM-FFM観察 |
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SPI No.18 |
顔料と溶剤の混合した塗膜のLM-FFM観察 |
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SP INo.19 |
ポリスチレンとゴムの成型品表面のLM-FFM観察 |
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SPI No.33 |
SPMによるアドヒージョン測定(吸着力分布測定) |
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SPI No.34 |
ポリマーブレンド試料の表面物性総合解析 |
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SPI No.35 |
走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンブロックコポリマーのモルフォロジー観察 |
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SP INo.38 |
フリクショナルカーブによる定量的摩擦特性評価U |
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SPI No.39 |
スチレン・ブタジエン・スチレンブロック共重合体のミクロ相分離構造の観察 |
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SPI No.40 |
銀フィラー入りポリイミドフィルムの温度依存性の観察 |
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SPI No.41 |
フイルム状高分子材料の真空下における構造変化の観察 |
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SPI No.42 |
走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンの結晶ラメラ観察 |
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SPI No.44 |
ポリプロピレンブロックコポリマーのガラス転移現象その場観察 |
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SPI No.45 |
カラーネガフィルムバックコートのLM-FFM観察 |
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SPI No.46 |
走査型プローブ顕微鏡によるカラーネガフィルム薄膜層の観察 |
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SPI No.51 |
SPMによる高分子材料の温度スウィープ測定 |
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SPI No.52 |
押出し形成PETシートの表面転移温度測定 |
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SPI No.53 |
2軸延伸PETフィルムの表面移転温度測定 |
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SPI No.54 |
温度制御型SPMを用いたポリ乳酸の結晶成長観察 |
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SPI No.59 |
燃料電池への応用
−電解質膜の温度制御下および純粋中での観察− |
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NPX No.4 |
ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) |
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NPX No.23 |
高性能ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) |
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NPX No.24 |
液晶配向膜成膜条件の評価(Nanopics) |
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NPX No.25 |
原子間力顕微鏡(AFM)と電子顕微鏡(SEM)の画像の比較T(Nanopics) |
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| 磁気 |
SPI No.20 |
MFM(Magnetic
Force Microscope) 〜 磁気力顕微鏡の紹介 |
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SPI No.21 |
Moパーマロイ微粒子格子のMFM観察 |
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SPI No.22 |
ダブルコーティング・ビデオテープのMFM観察 |
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SPI No.23 |
MFMによるパーマロイ薄膜の磁区観察 |
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SPI No.24 |
隕石中の磁性物質のMFM観察 |
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SPI No.25 |
SPMによる液中AFM測定 |
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SPI No.26 |
Coドット及びアンチドット格子の残留磁化状態のMFM観察 |
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SPI No.27 |
連結したCo円盤に生じる磁気渦のMFM観察 |
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SPI No.28 |
Co細線における磁壁のピン止め状態のMFM観察 |
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SPI No.29 |
位相検出法による磁気力顕微鏡(MFM)測定 |
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SPI No.30 |
外部磁場印加によるパーマロイ薄膜の真空中磁気力顕微鏡(MFM)測定 |
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SPI No.31 |
大型ステージユニットSPA-500によるGMRヘッドの磁気力顕微鏡(MFM)測定 |
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SPI No.32 |
大型ステージユニットSPA-500によるハードディスクの磁気力顕微鏡(MFM)測定 |
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SPI No.48 |
SPI4000
ActiveQ機能及び低モーメント探針による高感度、高分解能MFM |
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SPI No.49 |
磁気力顕微鏡による磁性体ナノドット配列のスピン構造の観察 |
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SPI No.50 |
MFM
analysis of magnetization process in CoPt dot-array(英語版) |
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SPI No.55 |
六角格子ネットワークの高分解能MFM観察 |
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SPI No.56 |
ナノ磁石中の束縛されていない単一磁壁の高分解能MFM観察 |
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SPI No.57 |
単一磁壁の質量決定と低電流誘起共鳴駆動 |
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SPI No.58 |
ナノスケール磁性体の磁区構造の神秘な世界 |
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SPI No.61 |
水平磁場印加オプションによるMRAM評価への応用 |
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SPI No.62 |
水平磁場印加オプションを使用したMFMアプリケーション |
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| 原子像 |
SPI No.47 |
走査型プローブ顕微鏡によるSAMの分子像観察 |
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