Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 アプリケーション 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
製品情報
製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
走査型プローブ顕微鏡(SPM)製品ラインナップ
スペシャルコンテンツ
取り扱いカンチレバー一覧表
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の歴史
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の原理解説
走査型プローブ顕微鏡(SPM)のアプリケーションデータ
走査型プローブ顕微鏡(SPM)のデータギャラリー
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の国際学会発表ポスター
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の参考文献リスト
走査型プローブ顕微鏡(SPM)の用語集
走査型プローブ顕微鏡(SPM)セミナーレビュー
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア(MDP)
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
価格問い合わせ
価格問い合わせフォーム
消耗品価格表
予算申請用カタログ
販売チャネル
製品の安全点検について
試験所
トップ製品情報 > 走査型プローブ顕微鏡(SPM) > スペシャルコンテンツ

 走査型プローブ顕微鏡(SPM)

スペシャルコンテンツ

SIIナノテクの走査型プローブ顕微鏡(SPM)の特長や最新技術ををわかりやすくまとめたスペシャルコンテンツです。
ナノサーマル顕微鏡 nano-TA 加熱機構を有する微小な探針によって、試料表面の目的の箇所を加熱し、微小部の軟化温度を特定する技術、"nano-TA " をご紹介します。
汎用小型SPM Nanocute レーザー調整不要、測りたい試料に自己検知ホルダーを載せるだけで、測定データ取得まで装置が親切にナビゲートしてくれる、簡単・省スペースな低価格小型SPM "Nanocute" をご紹介します。
粗さ計測機能 "NanoNavi JS-1683" AFM表面粗さJIS規格(2007)に準拠した計測機能でナノスケールでの品質管理を実現した、"NanoNavi JS-1683"をご紹介します。
磁気力顕微鏡と外部磁場印加オプション

磁性体の磁区構造やMFMについての概説と、最先端の観察・解析を可能にする、SPMの様々なタイプの外部磁場印加オプションをご紹介します。

SISモード(サンプリング・インテリジェント・スキャンモード) 水平方向の相互作用影響を受けず、凹凸や吸着が大きな試料や軟らかい試料などの安定した測定を可能にする "SISモード" をご紹介します。




走査型プローブ顕微鏡(SPM)トップページ
SIIホーム
■ サイトのご利用について   ■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ  
Copyright © 2012 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.