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トップ製品情報 > 走査型プローブ顕微鏡(SPM) > スペシャルコンテンツ > 磁気力顕微鏡と外部磁場印加オプション
 
磁気力顕微鏡(MFM)と外部磁場印加オプション
磁気ストレージの高密度化や次世代のスピン応用デバイスに関連した研究は、グリーンITへの関心の高まりとともに、1ビット当たりの消費電力をいかに減らすかという社会的要請に応えるべく精力的に行われています。このような基礎・応用研究においては、手軽にナノスケールで磁気構造を可視化できる手法が望まれており、磁気力顕微鏡(MFM)は最も実用的なツールになっています。  
SIIナノテクでは10nm以下の空間分解能を目指した高分解能MFM技術を開発し、最先端の超高密度磁気記録媒体の観察や、ナノ磁性体の微細磁気構造の解析に適用してきました。また熱磁気特性を検出可能な温度制御MFM技術、極微領域の磁化特性を探求できる磁場印加MFM技術など蓄積してきました。
ここでは、磁性体の磁区構造やMFMについて概説した後、SPMにアタッチメント可能な、様々なタイプの外部磁場印加オプションをご紹介します。

1. はじめに

  SIIナノテクのナノスケール磁性体研究ツールの開発概要と、磁性体の磁区構造について解説します。

2. MFM(磁気力顕微鏡)とConductive-AFM(電流計測AFM)

  磁区構造に依存した物性を検出する手法として、MFMとConductive-AFMをご紹介します。

3. 外部磁場印加オプションの紹介

  水平磁場印加、垂直磁場印加、回転磁場印加、磁場スイープなどの各種磁場印加オプションを紹介します。 また、数1000エルステッドの強磁場にも耐える高保磁力探針についても紹介します。

4. 事例紹介

  各種磁場印加オプションを使った測定事例を紹介します。磁場印加オプションをご使用いただいている外部の研究者の方々の事例もご紹介させていただきます。

5. 参考資料

  関連する文献リストです。


対応機種

  ※ MFM測定は全機種(Nanocute OP、S-image、E-sweep、L-traceU)に対応しております。磁場印加オプションは環境制御SPM “E-sweep”(一部、“SPA-300HV”)に対応します。  
 
NanoNavi2 E-sweep
 
     
  装置構成や価格の詳細については、当社営業までお気軽にお問合せください。  
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