走査型プローブ顕微鏡（SPM）
プローブステーション NanoNaviReal

品名	プローブステーション

型式	NanoNaviReal

概要	探針検定を含む微小領域の表面粗さ評価方法がJISで規格化されました。この規格に準拠した、高精度で客観的な粗さ評価が実現する機能を搭載しています。また、操作手順をフローチャート形式でナビゲートし、どなたでも簡単に高分解能な表面観察を行うことができます。