[集束イオンビーム（FIB）] SMI500データギャラリー(1) ｜エスアイアイ・ナノテクノロジー

トップ > 製品情報 > 集束イオンビーム/走査イオン顕微鏡（FIB/SIM）） > SMI500データギャラリー

集束イオンビーム（FIB）

	ナノ加工顕微鏡 SMI500データギャラリー

1 2 »

[No.1] はんだボールの断面加工観察

セロハンテープの断面

[No.2] セロハンテープの断面加工観察

ねじの各部（ねじ山、ねじ溝）の断面観察

[No.3] ねじの各部（ねじ山、ねじ溝）の断面加工観察

紙（上質紙）の断面

[No.4] 紙（上質紙）の断面加工観察

紙（塗工紙）の断面

[No.5] 紙（上質紙）の印刷後の断面加工観察

植物の根（ヘビノネゴザ）の断面観察

[No.6] 植物の根（ヘビノネゴザ）の断面加工観察

髪の毛（枝毛）の断面観察

[No.7] 髪の毛（枝毛）の断面加工観察

耐熱鋼P122の観察例

［No.8］耐熱鋼P122の観察例

ウィスカの断面加工観察

［No.9］ウィスカの断面加工観察

携帯電話部品（フィルムケーブル）の断面加工観察

[No.10] 携帯電話部品（フィルムケーブル）の断面加工観察

携帯電話部品（CCD）の断面加工観察

[No.11] 携帯電話部品（CCD）の断面加工観察

CCDの連続断面像

[No.12] CCDの連続断面像

1 2 »

2ページ目以降にも最新データを掲載しています。
ぜひご覧ください。

ナノ加工顕微鏡 SMI500

ナノ加工顕微鏡 SMI500 製品情報

■ サイトのご利用について ■ 個人情報保護ポリシー ■ サイトマップ

Copyright © 2010 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.

　