カテゴリ内
SII全体
トップ
>
製品情報
>
集束イオンビーム(FIB)
> アプリケーション
集束イオンビーム(FIB)
アプリケーション
集束イオンビーム(FIB)の観察事例をご紹介致しております。
(ご覧頂くには
Adobe Acrobat Reader
が必要です。)
1.
3Dナノ構造物の作成
2.
FIBによる微細加工
3.
TEM試料作製
4.
マルチガスシステムの応用
5.
高倍率の観察
6.
低加速モード加工
7.
精密金型作製への応用
■ 個人情報保護ポリシー
■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.