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新製品紹介(2004分析展出品)

集束イオンビーム装置

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SMI3000SEシリーズ
 

FIB-SEM複合装置

FIBによる高分解能観察(世界最高4nm!)。
• SEMによる加工断面自動モニタリング機能を搭載。
• ステージサイズ50mmの他、200mm、300mmにも対応。
• 連続加工、TEM自動仕上加工など自動化ソフ ト各種完備。ドリフト補正機能も充実。
• デポジションガス、エンハンストガス種がより充実。EBデポジションン機能も付加。
• EDS機能も追加可能。


SMI3000シリーズ FIB-SEM複合装置
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 <Advanced Nano Fabrication -Using Bitmap Data- >

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