2008年度新着情報｜エスアイアイ・ナノテクノロジー

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2008.12.03	フォトマスク欠陥修正装置「SIR-5」を発売
2008.12.01	簡単操作・低価格な走査型プローブ顕微鏡「Nanocute（ナノキュート）」を発売
2008.09.01	走査型プローブ顕微鏡の新システムと新オプションを発売
2008.09.01	ICP発光分光分析装置の新製品「SPS3500シリーズ｣を発売
2008.08.25	熱機械的分析装置の新商品「TMA/SS7100」を発売
2008.07.29	小型・低価格な集束イオンビーム（FIB）装置の新製品「ナノ加工顕微鏡システムSMI500」を発表
2008.06.17	高速マッピング測定機能搭載の蛍光X線分析装置「SEA6000VX」を発売
2008.06.06	大型プリント基板対応の高性能蛍光X線膜厚計「SFT9500Ｌ」を発売
2008.05.20	カールツァイス製走査電子顕微鏡の新製品「ULTRA plus （ウルトラプラス）」を発売
2008.03.04	ハロゲン元素の測定が可能なICP発光分光分析装置の新製品「SPS3100HV UV｣を発売

2009.01.30	高品位TEM試料作成装置(トリプルビーム^®装置)開発により新機械振興賞を受賞
2008.11.26	予算申請用カタログ2009を掲載
2008.06.05	中国四川大地震災害への義援金について
2008.05.23	新経営体制のお知らせ