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2007年11月8日

セミコン ジャパン 2007出展のご案内


エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社では、12月5日から幕張メッセにて開催される「SEMICON Japan 2007」に出展します。

【開催概要】
会期: 2007年12月5日(水)〜7日(金)
会場: 幕張メッセ(日本コンベンションセンター) 1〜11ホール
千葉市美浜区中瀬2-1
地図
入場料: 無料
セミコン・ジャパン 2007 オフィシャルサイトの事前登録をご利用ください


なお、12月7日に開催される「SEMIテクニカルシンポジウム 7:リソグラフィ&マスク 2」において、弊社技術総括部 加藤心が『DFM指向のMRC(マスクルールチェック)技術』と題した講演を行います。詳しくはオフィシャルサイトよりご覧下さい。

 SIIナノテク出展概要

【ブース】 ホール2 ブースNo.2A-509
ブースマップ

【出展製品】

         
電子顕微鏡   NVision40   集束イオンビーム装置
カールツァイス製FE-SEM
ULTRA55
  FIB-SEMダブルビーム装置
Nvision 40
  集束イオンビーム装置
XVision 200DB/TB
         
NanoNaviステーション   走査型プローブ顕微鏡   L-traceII
プローブステーション
NanoNaviステーション
  走査型プローブ顕微鏡
多機能型ユニット
S-image
  走査型プローブ顕微鏡
大型ステージユニット
L-traceII
         
E-sweep   SFT9500   フォトマスクリペア装置 SIR7
走査型プローブ顕微鏡
環境制御型ユニット
E-sweep
  高感度蛍光X線膜厚計
SFT9500
  フォトマスクリペア装置
SIR7
         
E-sweep        
半導体製造支援ソフト
マスクルールチェッカー
SmartMRC
       


 第9回プライベートセミナーのご案内


弊社はセミコン・ジャパン2007の開催に合わせて、プライベートセミナーを開催いたします。今年で9回目を迎える本セミナーでは、最先端技術分野でご活躍されている方を講師としてお招きしご講演をいただいております。今年は主に半導体プロセス、故障解析、最先端の観察・加工分野でご活躍中の方々からの日ごろの研究成果やアプリケーション事例のご紹介をいただきます。

日  時: 2007年 12月 5 日(水)13:00〜17:30
場  所: ホテル ザ・マンハッタン(千葉・幕張メッセ近く)
〒261-0021千葉県千葉市美浜区ひび野2-10-1
電話:043-275-1111
地図
参加費用: 無料
主催: エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
お問合せ: エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 BT営業部
大場(おおば)・飯高(いいだか)
TEL: 03-6280-0067

※1 このプライベートセミナーは主に評価・解析・分析業務に従事されていらっしゃるお客様を対象として開催させていただくものです。講演内容等詳細については、上記の窓口にお問合せください。

※2 既にプログラムをお持ちでセミナーへの参加を希望される方は、下記のオンラインフォームよりお申込みください。

※3 受講の可否につきましては、お申し込み1週間以内に、弊社より「受講票」をFAXにて送信いたします。なお、誠に勝手ながら定員になり次第、締め切らせていただきますので、予めご了承願います。

•オンライン申込みフォーム(*受付終了いたしました。)


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