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走査型プローブ顕微鏡（SPM）
新製品、 新機能紹介セミナー開催のご案内
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この度、走査型プローブ顕微鏡（SPM）の新製品、新機能紹介セミナーを開催いたします。このセミナーでは、新製品である簡単・手軽・省スペースのベーシックSPM、表面粗さJIS規格に対応した次期ステーションのご紹介と新機能であるブレンドポリマーの分布や局所の熱物性分析やナノメートルレベルの薄膜の熱物性測定などの評価を実現する「ナノサーマル顕微鏡」をご紹介いたします。
さらに、薄膜の定量的な機械物性評価を実現するトライボスコープにつきましてご紹介いたします。
セミナー当日は、営業をはじめアプリケーションラボスタッフも多数出席いたしますので、専門的なご質問もどうぞお寄せください。
皆様のご参加を心からお待ち申し上げております。
【開催概要】
| 日時: |
2008年11月26日（水） 13：00~17：00
※11月19日（水）は満席のため、上記日程で追加開催をいたします。
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| プログラム: |
第一部 SPM概論と新製品ベーシックSPM
のご紹介
13:10～13:30
「SPMの基礎と製品ロードマップ」
分析営業部 水口 勝利
13:30～14:00
「簡単・手軽・省スペースのベーシックSPM登場」
（実演含む）
分析応用技術部 辻川 葉奈
14:00～14:30
「新技術 表面粗さJIS規格を搭載したSPM」
分析応用技術部 野坂 尚克
第二部 SPM熱・機械物性の定量化への展開
14:45～15:15
「ナノサーマル顕微鏡による有機・高分子材料の評価」
分析応用技術部 岩佐 真行
15:15～15:45
「SIIナノテクAFMへのトライボスコープオプションに関して」
オミクロン ナノテクノロジー ジャパン株式会社
営業部 富塚 仁 様
第三部 SPM実機見学と新製品のご紹介
15:45～16:45
「SPM実機見学」
（ナノサーマル顕微鏡、S-image、E-sweep、L-traceⅡ）
16:45～16:50
「新製品
粗さJIS規格対応ステーションのご紹介」
分析営業部 阿部 正男 |
| 会場: |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
本社
〒104-0041 東京都中央区新富2-15-5 RBM築地ビル Tel: 03-6280-0068 
※ なお、会場には駐車場のご用意がございません。恐れ入りますが公共の交通機関をご利用になりご来場頂けますようお願い申しあげます。
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| 定員： |
30名 |
| 参加費用： |
無料 |
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申込方法： |
下記オンライン申込みフォームにてお申込み下さい。
・お申込受付を終了いたしました
※1. お申込締切日前においても満席となり次第締め切りとなりますので、お早めにお申込み下さい。
※2. 受付が完了した方は、開催日の1週間前より受講票を順次FAXにてお送りいたします。セミナー当日は、受講票を必ずご持参ください。
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| お問合せ： |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
分析応用技術二課 SPM担当者
Tel：03-6280-0068 |
※お申込みの際ご提供いただいた個人情報は本セミナーについてのご連絡、ならびにセミナー内容に関連したご案内に利用させていただきます。当社の個人情報保護の取り組みについては
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をご覧ください。
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