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走査型プローブ顕微鏡 最新応用技術セミナー（東京会場）開催のご案内
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走査型プローブ顕微鏡（SPM）の市場では、半導体をはじめ金属、ガラス、セラミックスなどの無機材料、樹脂やプラスチックなどの高分子材料、または細胞や細菌などの生体組織にいたるさまざまな物質表面の形状や物性を高分解能に測定する要求が増えてきています。
「最新応用技術セミナー」は、これまで各テーマごとに開催をしてまいりましたが、今回多数のご要望により、1日で複数のテーマを取り上げることになりました。
セミナー当日は、営業をはじめアプリケーションラボ・開発技術スタッフも多数出席いたしますので、専門的なご質問もどうぞお寄せください。皆様のご参加を心からお待ち申しあげております。
【開催概要】
| 日時: |
2007年5月25日（金） 13：00~17：30
※各部とも30分前より受付を行います。
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| プログラム: |
第1部 ハイアスペクト形状測定評価
13：00~14：00
「ハイアスペクト形状測定評価」 応用技術部
第2部 高分子材料のモルフォロジー評価
14:15~15:15
「高分子材料のモルフォロジー評価」 応用技術部
第3部 第３部
SPMによる電磁気イメージング
15:30〜16:30
「SPMによる電磁気イメージング」 応用技術部
16:30〜16:50 「新製品紹介」 営業部
16:50〜17:20 デモルームにて実機見学
17:20〜17:30 アンケートご記入
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| 会場: |
【東京会場】
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 本社
〒104-0041 東京都中央区新富2-15-5 RBM築地ビル
Tel: 03-6280-0068
※ なお、会場には駐車場のご用意がございません。恐れ入りますが公共の交通機関をご利用になりご来場頂けますようお願い申しあげます。
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| 定員： |
各部 20名 |
| 参加費用： |
無料 |
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申込方法： |
下記オンライン申込みフォームにてお申込み下さい。
・2007年5月25日（金） SPM最新応用技術セミナー
…受付終了
※1. 各回とも開催日1週間前にて申し込みを終了させていただきます。申込み締切日前においても定員に達し次第締め切りますので、お早めにお申込み下さい。
※2. 受付が完了した方は、開催日の1週間前より受講票を順次FAXにてお送りいたします。セミナー当日は、受講票を必ずご持参ください。
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| お問合せ： |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
応用技術課 SPM担当者
Tel：03-6280-0068 |
※お申込みの際ご提供いただいた個人情報は本セミナーについてのご連絡、ならびにセミナー内容に関連したご案内に利用させていただきます。当社の個人情報保護の取り組みについては
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をご覧ください。
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