蛍光X線膜厚計ミニセミナー開催のご案内

トップ > イベント情報 > イベント情報詳細

2010年10月5日

「新製品：蛍光Ｘ線膜厚計SFT-110のご紹介」

弊社では膜厚測定のスループット向上のニーズに応えるため、新たに「自動位置決め機能」を搭載した「蛍光X線膜厚計SFT-110」を開発いたしました。
この機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができ、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。
この度、新製品「蛍光X線膜厚計SFT-110」をご紹介いたしたく、下記の要領にてセミナーを開催させていただきます。
皆様のご参加を心よりお待ちしております。

蛍光X線膜厚計　SFT-110

*製品価格については、こちらよりご覧ください。

【開催概要】

日時:	2010年10月26日 (火)　13:30～16:30
内容:	1.　蛍光X線膜厚計SFT-110のご紹介 2.　装置実演（蛍光X線膜厚計SFT-110） 3.　質疑応答
会場:	エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社東京営業所　4F　セミナールーム（東京都中央区新富2-15-5　RBM築地ビル)
定員:	20 名 ※定員に達し次第、お申込受付は終了となりますのでご了承ください。
参加費:	無料
お申込み:	下記お申込みフォームよりお申込みください。【オンライン申込フォーム】・お申込受付を終了いたしました。 [お申込の流れ] 1.オンラインフォームにてお申込み 2.受信確認メール到着（ご登録いただいたメールアドレスへ自動配信されます。） 3.受講可否のご連絡（受講日約1週間前より、FAXにて受講票をお送りします。参加不可の方へは、メールもしくは電話にてご連絡いたします。）

※お申込みの際ご提供いただいた個人情報は本セミナーについてのご連絡、ならびにセミナー内容に関連したご案内に利用させていただきます。当社の個人情報保護の取り組みについては個人情報保護ポリシーをご覧ください。

本セミナーに関するご質問、お問合せについては、下記担当までお願いします。

お問合せ:

エスアイアイ･ナノテクノロジー株式会社
営業管理課セミナー･スクール担当
TEL: 03-6280-0062

イベント情報トップへ

■ サイトのご利用について ■ 個人情報保護ポリシー ■ サイトマップ