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2010年08月11日

走査型プローブ顕微鏡セミナー2010(名古屋会場)開催のご案内

環境制御SPMとナノ物性マッピング 〜真空測定のメリット〜

☆☆☆ SIIナノテク見える化ツールのご紹介 ☆☆☆


走査型プローブ顕微鏡(SPM)は、形状観察のみならず物性評価の手法として、昨今、広く使用されています。その中で、SPMへの要望として高感度化・高分解能化、測定結果の信頼性・再現性の向上があげられます。

それらの課題解決への可能性について、本セミナーが1つのヒントになればと考えております。皆様のご参加を心よりお待ちしております。


【開催概要】

日時:

2010年9月17日(金)13:30~16:30

会場:

愛知県産業労働センター ウインクあいち(WINC AICHI)

愛知県名古屋市中村区名駅4丁目4-38

会場地図

定員:

25名

参加費:
無料
内容:

13:40~14:20

電磁気計測における高感度・高分解能・安定性向上
吸着水影響などを排除した各種AFM電流計測手法やSNDM(非線形誘電率顕微鏡)における効果の実例、カンチレバー振動型の電磁気計測SPMに有効なQ値制御による真空メリットについても、その効果や実例をご紹介します。

【関連分野のコンテンツ】

→SPMギャラリー(半導体・エレクトロニクス)

→スペシャルコンテンツ(MFMと外部磁場)

■14:20~15:00

熱・機械物性計測と真空中局所熱分析
高分子ブレンドにおける観察温度の最適化(真空中位相測定)、局所熱分析(nano-TA)や熱伝導率顕微鏡(SThM)の真空中計測における効果と実例をご紹介します。

【関連分野のコンテンツ】
→SPMギャラリー(有機・高分子)

→スペシャルコンテンツ(ナノサーマル顕微鏡)

15:10~15:45

最新トピックス紹介 
環境制御SPM、真空メリットを活かした最新事例として電気自動車モータ永久磁石の熱消磁過程の観察を紹介し、更に新しく追加した新しい電気物性モード(SIS-AFM)、カンチレバーのバネ定数計測機能、JIS規格対応のナノスケール品質管理手法であるAFM粗さ評価技術についてご紹介します。
また、レーザー調整不要、測りたい試料に自己検知ホルダーを載せるだけのSPMや測定 データ取得まで装置が親切にナビゲートしてくれる汎用小型SPM「Nanocute」をご紹介します。

【関連分野のコンテンツ】

→スペシャルコンテンツ(粗さ計測機能 NanoNavi JS-1683)

→製品情報(E-sweep)

→スペシャルコンテンツ(汎用小型SPM Nanocute)

■15:45~16:25

電子顕微鏡(SEM)・熱分析装置(TA)・蛍光X線分析装置(SEA)のご紹介


■Gemini FE-SEMを使って見たいものを見る!

カールツァイス社製のFE-SEMは、従来にない方式のGemini鏡筒を搭載しており、低加速電圧による極表面の観察や、様々な検出器を組み合わせた解析を簡単に行うことができる顕微鏡です。当日は、Gemini FE-SEMを使った解析事例をご紹介します。

→製品情報ページはこちら

■リアルビューDSCが試料の変化を「見える化」

リアルビューDSCは、示差走査熱量計に装着することで測定中の試料の状態変化画像をDSC信号と合わせて取り込みことができます。 試料の物性変化に伴う形状変化や色彩変化を観察した測定事例をご紹介します。

→製品情報ページはこちら

■丸一日かかっていた作業が数十分!? 高速異物検出可能なSEA6000VX

SEA6000VX HSFinderは、エネルギー分散型の蛍光X線分析装置で試料の元素分布を世界最高レベルの速さで測定可能です。100mm×100mmの樹脂中のSUS100μm程度の異物を2〜3分で検出するなど広いエリアに存在する微小な金属異物を短時間で検出できます。Liイオン電池材料中の15μm程度の異物を短時間で計測でき、さらにパワーアップした機種もラインナップしました。

→SEA6000VXスペシャルコンテンツはこちら

申込方法:

下記のお申込みフォームよりお申込みください。

【オンライン申込フォーム】
2010年9月17日(金)SPMセミナー2010(名古屋会場)


[お申込の流れ]
1.オンラインフォームにてお申込み
2.受信確認メール到着
(ご登録いただいたメールアドレスへ自動配信されます。)
3.受講可否のご連絡
(受講日の約10日前より、FAXにて受講票をお送りします。参加不可の方へは、メールもしくは電話にてご連絡いたします。)

お問合せ: エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
営業管理課 セミナー担当
TEL: 03-6280-0062


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