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2008年9月19日

蛍光X線ミニセミナー
「環境規制物質と膜厚測定の最新技術」開催のお知らせ


RoHSマッピングをしたい ナノメートル超薄膜メッキを計りたい
数十ミクロンレベルの微小な異物を迅速に発見したい
 

 蛍光X線装置の普及が進み、お客様から上記のようなお声をいただきました。

 このようなご要望にお応えするため、SEA6000VX、SFT9500シリーズを発売し、これら新製品での高感度測定技術をご紹介するセミナーを企画しました。
  現在蛍光X線装置購入をご検討中のお客様、すでに装置を使用されているお客様にも有意義な情報をご提供できる場になると考えております。ご参加をお待ちしております。

SEA6000VX
SEA6000VX
SFT9500
SFT9500シリーズ


【開催概要】
日時:

2008年10月22日(水) 13:00〜17:30

会場: エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
本社7Fセミナールーム
(東京都中央区新富2-15-5 RBM築地ビル)
地図
定員: 30名
※定員に達した場合にはお断りさせていただく場合がございますのでご了承ください。
内容: 1. 講演
(1) 「超高速元素マッピング機能と高感度自動測定」(SEA6000VX)
(2) 「ナノオーダーの多層極薄膜の高精度測定」(SFT9500シリーズ)
2. 実演
(1) SEA6000VX 「実装基板のPbの超高速マッピング」デモンストレーション
(2) SFT9500 「ナノオーダー薄膜3層メッキ測定」デモンストレーション
3. 質疑応答
今後の環境規制の展望(実装基板への波及)他
お申込み: 下記お申込みフォームよりお申込みください。

※お申込受付を終了いたしました。

※お申込みの際ご提供いただいた個人情報は本セミナーについてのご連絡、ならびにセミナー内容に関連したご案内に利用させていただきます。当社の個人情報保護の取り組みについては 個人情報保護ポリシー をご覧ください。

本セミナーに関するご質問、お問合せについては、下記担当までお願いします。

お問合せ: エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
営業企画課 セミナー・スクール担当
TEL: 03-6280-0062

 

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