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2008年7月7日

≪中国現地開催≫環境規制物質対策オープンスクールのご案内

高速マッピング測定機能搭載の新製品蛍光X線装置の同時展示実演

 2006年7月から施行されたEU(欧州連合)のRoHS指令や、2007年3月1日より施行された『電子情報製品汚染抑制管理弁法』(中国版RoHS)など、各国で環境規制物質への規制、管理が厳しくなってきております。これらの環境規制物質の管理には蛍光X線分析装置が幅広く活用されています。

  このたび環境規制物質の測定に使用されている蛍光X線分析装置に関して以下のとおり、中国 蘇州・深センにて環境規制物質対策オープンスクールを実施いたします。 蛍光X線法による環境規制物質の管理の実態の把握や今後の展開等にお役立ていただきたく、万障お繰り合わせの上ご出席賜りますようお願い申し上げます。

  また、最近ではメッキ中に含まれる有害物質も管理されるようになってきており、微小部分での有害物質の有無やプリント基板に実装されている部品に基準以上の規制物質が含まれていないか対象金属のマッピング分析を行いたいとのご要望も多く、今回は併せて高速マッピング測定機能搭載の微小部分析対応の蛍光X線装置の新製品発表をさせていただきます。当日は、最新型蛍光X線分析装置の実機展示およびデモンストレーションを行います。

  皆様の多くのご来場を心よりお待ちしております。

※講演は日本語のみとなります。

【講演内容】
「環境規制物質対策スクール」
• 蛍光X線の原理・装置概要
• RoHS分析のノウハウ(形状補正、材質補正、精度管理型測定手法など)
• 有害物質の含有有無判別の解説
• めっき中の有害物質の測定ノウハウ
• 測定事例と測定上の注意点
  -ハロゲン(塩素測定)対応、玩具対応、RPF対応など
• 日常の点検、校正等の解説
「新製品SEA6000VX蛍光X線分析装置の概要」
• 基板に実装された部品の有害物質元素の高速マッピング測定
• 微小部のめっき膜厚・成分の高精度測定
  -Au/Ni/Cu、Sn-Ag-Cu-Pb、Ni-Pなど
• 250×200mmの広域光学画像での連続測定の位置決め機能

【開催概要】
会場: 蘇州会場 深セン会場
日時: 2008年7月18日(金)
13:00〜17:30
(受付開始12:00より)
2008年7月22日(火)
13:00〜17:30
(受付開始12:00より)
会場: 蘇州市会議中心
地図
深セン陽光酒店
地図
定員: 80名 100名
参加費:
無料

【お申込み】
方法: 申込みフォームをダウンロードし、メールまたはFAXにて送信してください。開催日3日前までに、 弊社より「参加票」をFAXで送信いたします。

  • 申し込みフォームダウンロード(Microsoft Word形式)
申込み先:
FAX: +86-21-5027-3733
E-mail:

※お間違えのないようご注意ください。
締切り: お申込の締め切りは、各開催日の5日前となります。 なお、誠に勝手ながら定員になり次第、締め切らせて頂きますので、予めご了承願います。


【お問合せ】
精工盈司電子科技(上海)有限公司
(SII NanoTechnology (Shanghai) Inc.)
TEL: +86-21-5027-3533 内線:505
担当: 程(てい)郁郁 (Cheng Yuyu)
精工盈司電子科技(上海)有限公司 東莞事務所
TEL: +86-769-8584-5871/5872
担当: 望月、楊


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