第16回X線分析講習会のご案内

トップ > イベント情報 > イベント情報詳細

2008年6月12日

　 7月14日～16日の3日間、日本分析化学会X線分析研究懇談会主催による「第16回X線分析講習会蛍光X線分析の実際（第5回） ―環境試料中の有害元素の迅速分析法、RoHS/ELV指令への対応」が開催されます。本講習会は、蛍光X線分析の分析技術、測定ノウハウを講義・実習をとおして学んでいただくためのものです。

　当社からは、7月15日に「膜厚測定」に関する講義を担当するほか、当社最新装置の展示・デモンストレーションを行います。

　下記詳細をご覧いただき、参加をご希望される方は、日本分析化学会X線分析研究懇談会へ直接お申込みください。

【開催概要】

会期: 2008年7月14日(月）～ 16日（水）
9:00～17:30

会場: 東京理科大学記念講堂、大会議室　1号館17階
(東京都新宿区神楽坂1-3　 TEL: 03-3260-4271)

定員: 講義: 150名,　実習: 64名

詳細・お申込み: プログラム等詳細については、X線分析研究懇談会からのご案内をご覧下さい。
X線分析研究懇談会からのご案内に掲載の申込書をご利用の上、直接日本分析化学会X線分析研究懇談会までお申込みください。

主催: 日本分析化学会X線分析研究懇談会

共催: 東京理科大学グリーン光科学技術研究センター

協賛: 日本分析化学会、日本化学会、電気化学会
応用物理学会、日本結晶学会、日本セラミックス協会

お問合せ: 東京理科大学理学部応用化学科中井　泉
TEL: 03-3260-3662 FAX: 03-3235-2214
E-mail:

イベント情報トップへ