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エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社は、下記の日程で開催される「第25回エレクトロテスト・ジャパン」に出展します。
エレクトロテスト・ジャパンは、エレクトロニクス実装、半導体、基盤製造に関する検査・試験・測定・分析装置の日本最大の専門技術展です。当社からは蛍光X線分析装置、膜厚計をご紹介いたします。
【開催概要】
| 開催日時： |
2007年1月16日〜 18日
10:00〜18:00（最終日のみ17:00まで） |
| 会場： |
東京ビックサイト
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| 入場料： |
招待券、事前申込みがない場合5000円（
エレクトロテスト・ジャパンオフィシャルサイトでの事前申込みにより無料でご入場いただけます） |
【SIIナノテク出展概要】
| 出展ブース： |
東3ホール ブース No.4-34 |
| 展示機器： |
•蛍光X線分析装置 エレメントモニタ
SEA1200VX
•蛍光X線分析装置 HS モニタ SEA1000A
•高感度蛍光 X 線膜厚計 SFT9500 |
| みどころ： |
国内総販売数5000台以上の実績を誇るSIIナノテクの蛍光X線装置。お客様のニーズに合わせて、SEA シリーズ、SFTシリーズと多様な機種を取り揃えています。特にSEA1200VXは、高感度・高分解能検出器の搭載による感度向上を実現し、RoHS/ELV対応のためのスクリーニングから高感度の本格分析までをカバーします。
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