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2007年9月20日
熱分析最新技術セミナー2007のご案内
近年、ナノテクノロジー分野の開発が進むに伴い、その物性分析に用いられる熱分析装置に関しても、多方面の測定手法が求められています。例えば、DSC-FTIRなどの複合分析装置におけるデータ解析やナノ構造体への熱分析の利用などが挙げられます。 同時に、研究開発から品質管理までの幅広い工程において使用されるために、より基礎的な事柄～「熱分析で何がわかるのか？」「装置のメンテナンス」などが重要な知見となっています。
そこで、今回のセミナーでは、首都大学東京 都市環境学部 吉田 博久 准教授より 「分子情報を目的としたDSC測定～微量測定と複合測定が可能とすることは？」、 神奈川大学 理学部 西本 右子 准教授より「熱分析でほしい情報を正しく得るために 必要なこと」について、それぞれご講演いただきます。 また、最新の熱分析装置とその応用例などの事例もご紹介いたします。
皆様のご参加をお待ちしております。
【開催概要】
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東京会場 |
大阪会場 |
| 日時: |
2007年11月1日(木)
13:00～17:00（受付開始 12:00) |
2007年11月6日(火)
13:00～17:00（受付開始 12:00) |
| 会場: |
国際ファッションセンタービル
KFCホールAnnex
東京都墨田区横網1-6-1
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千里朝日阪急ビル
A&Hホール
大阪府豊中市新千里東町1-5-3
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| 定員: |
100名 |
60名 |
| 参加費: |
無料 |
【お申込み】
| ■オンライン申込み |
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申込みフォームに必要事項をご記入の上、送信してください。 |
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•東京会場申込みフォーム（定員のため、受付終了。） |
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•大阪会場申込みフォーム（定員のため、受付終了。） |
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•テキスト申込みフォーム(終了) |
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| ■FAX申込み |
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申込み用紙に必要事項をご記入の上、申込み用紙に記載のFAX番号宛に送信してください。 |
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•FAX申込みフォーム（東京/大阪会場ともに受付終了。） |
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お申込みの締切りは、各開催日の1週間前となります。
受講の可否につきましては、開催日3日前までに、弊社より「受講票」をFAXにて送信いたします。
なお、誠に勝手ながら定員になり次第、締め切らせていただきますので、予めご了承願います。
【講演内容】
| 講演1 「熱分析でほしい情報を正しく得るために必要なこと」 |
神奈川大学 理学部 化学科
西本 右子 准教授 |
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以下の内容についてご講演頂きます。 |
① 熱分析で何がわかるのか
② 装置の校正と標準物質
③ 測定条件
④ データ解析
⑤ 発展 |
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| 講演2 「分子情報を目的としたDSC測定～微量測定と複合測定が可能とすることは？」 |
首都大学東京 都市環境学部 材料化学コース
吉田 博久 准教授 |
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| 以下の内容についてご講演頂きます。 |
① DSC-FTIRでの最新のデータ
② ナノ構造体の界面や表面への熱分析の利用 |
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| 講演3 「最新の熱分析装置とその応用例」 |
| エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 分析応用技術部 |
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当社は従来機種に加え、新製品「DSC7020」を発表いたしました。 DSC感度が1桁近く向上し（当社比）、微小転移や微量サンプル測定も可能です。 この測定実例とその他の応用例（鉛フリー測定例など）をご紹介いたします。 |
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※講演タイトルが変更となる場合がございますのでご了承ください。
【お問合せ】
| 東京会場: |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 営業企画課
TEL: 03-6280-0062 / FAX: 03-6280-0073 |
| 大阪会場: |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 大阪営業所
TEL: 06-6871-8453 / FAX: 06-6871-8470 |
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