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2007年9月14日
鉛フリー評価技術セミナー2007のご案内
近年の鉛を中心とした有害物質の規制は、欧州、中国などのRoHS指令の法令化などにより、世界の産業界に大きな影響を与えております。国内における鉛フリー化は1998年頃から段階的に進められてきましたが、鉛フリー実装のウイスカの問題など深刻な課題も浮き彫りになっております。
そこで、今回のセミナーでは、大阪大学 産業科学研究所 菅沼克昭 教授を講師にお招きし、 「鉛フリーはんだの技術課題と今後の展望」についてご講演いただきます。また、最近の規制物質の動向と当社6製品を活用した鉛フリーはんだ材料の成分分析、
特性評価、表面・断面の観察などの事例もご紹介いたします。
多くのご来場を心よりお待ちいたしております。
【開催概要】
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東京会場 |
大阪会場 |
| 日時: |
2007年10月23日(火)
13:00～17:00（受付開始 12:00) |
2007年10月26日(金)
13:00～17:00（受付開始 12:00) |
| 会場: |
東京国際フォーラム ホールB5
東京都千代田区丸の内3-5-1
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千里ライフサイエンスセンタービル 5F ライフホール
大阪府豊中市新千里東町1-4-21
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| 定員: |
200名 |
100名 |
| 参加費: |
無料 |
【お申込み】
| ■オンライン申込み |
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申込みフォームに必要事項をご記入の上、送信してください。 |
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•東京会場申込みフォーム |
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•大阪会場申込みフォーム |
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•テキスト申込みフォーム |
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| ■FAX申込み |
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申込み用紙に必要事項をご記入の上、申込み用紙に記載のFAX番号宛に送信してください。 |
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•FAX申込みフォーム※定員のため受付終了※ |
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お申込みの締切りは、各開催日の1週間前となります。
受講の可否につきましては、開催日3日前までに、弊社より「受講票」をFAXにて送信いたします。
なお、誠に勝手ながら定員になり次第、締め切らせていただきますので、予めご了承願います。
【講演内容】
| 講演1 「鉛フリーはんだの技術課題と今後の展望」 |
大阪大学 産業科学研究所 産業科学ナノテクノロジセンター
菅沼 克昭 教授 |
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鉛フリー化の最新技術についての動向と鉛フリー化の課題としてあげられている 以下の内容を中心にご講演いただきます。 |
①ウイスカの評価と対策
②低温はんだの技術と現状
③高温はんだ代替材料の技術と現状
④鉛フリーはんだの高信頼化の可能性
⑤鉛はんだ法規制の動向と今後の技術 |
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| 講演2 「鉛フリーはんだ材料の成分分析及び特性評価」 |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
分析応用技術部 並木 健二 |
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| ICP発光分析、蛍光X線分析、熱分析における鉛フリーはんだの成分分析・特性評価例などを ご紹介いたします。 また、最近、規制の必要性が言われている、ハロゲン物質の分析例についてもご紹介いたします。 |
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| 講演3 「鉛フリーめっき上に発生したウイスカの内部構造観察」 |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
ビームテクノロジー応用技術部 大柿 真毅 |
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走査電子顕微鏡、集束イオンビーム、走査型プローブ顕微鏡におけるウイスカの観察例と ビームテクノロジーを用いた構造解析手法をご紹介いたします。 |
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| 講演4 「当社のRoHS指令向け標準物質開発の状況」 |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
分析応用技術部 川田 哲 |
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当社では、蛍光X線分析およびICP発光分析における分析値の信頼性確保のために標準物質の 開発に取り組んでいます。鉛フリー、ハロゲンフリー向けのプラスチック、鉛フリーはんだ及び 鉛フリーめっき標準物質の開発状況についてご説明いたします。 |
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※講演タイトルが変更となる場合がございますのでご了承ください。
【ポスターセッション内容】
| 製品 |
タイトル |
| ICP分析 |
① ICP発光分光分析法によるハロゲン元素の分析
② ICP発光分光分析法による鉛フリーはんだの分析
③ ICP発光分光分析法におけるRoHSの分析のノウハウ
④ ICP発光分光分析法による無電解ニッケルめっきの分析 |
| 蛍光X線分析 |
① めっき中の鉛の測定と薄膜標準物質の検討
② プリント基板の高速マッピング
③ 検量線による金属分析の手法
④ 蛍光X線分析法によるハロゲン元素の分析 |
| 熱分析 |
① リン添加鉛フリーはんだの耐酸化性評価
② 鉛フリーはんだの微量Niによる融解温度依存評価 |
| 走査電子顕微鏡 |
① 鉛フリーめっき上のウイスカ観察
② 装置の原理と特長 |
| 集束イオンビーム |
① 低ダメージTEM試料作製技術
② 集束イオンビーム（FIB)装置の特長 |
走査型プローブ
顕微鏡 |
① 走査型プローブ顕微鏡（SPM）の原理とナノ物性評価
② 走査型プローブ顕微鏡（SPM）によるウイスカの観察 |
【お問合せ】
| 東京会場: |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 営業企画課
TEL: 03-6280-0062 / FAX: 03-6280-0073 |
| 大阪会場: |
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 大阪営業所
TEL: 06-6871-8453 / FAX: 06-6871-8470 |
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