2007年8月16日

SURTECH 2007 出展のご案内

エスアイアイ・ナノテクノロジーは、9月5日より開催される、SURTECH 2007に出展します。
多くの皆様のご来場をお待ちしております。

会期:	2007年9月5日（水）〜7日（金） 10：00〜17：00
会場:	幕張メッセ ホール7
入場料:	1000円 招待券持参、またはSURTECH 2007オフィシャルサイトでのオンラインの事前登録により無料

ブース:	ホール7 ブースNo.78
出展内容:	国内総販売数5000台以上の実績を誇るエスアイアイ・ナノテクノロジーの蛍光X線分析装置。 お客様のニーズに併せて、SFTシリーズ、SEAシリーズと多種多様な機種を取り揃えております。 展示会場では、高性能蛍光X線膜厚計 SFT9500と、高感度蛍光X線分析装置 SEA1200VXの実機を展示いたします。 SEA1200VX 高感度・高分解能、さらに高計数率を独自開発で実現した蛍光X線検出器「Vortex」の搭載により飛躍的な感度の向上を実現しました。また、精度管理型ソフトとの併用で、測定時間を最大1/30に短縮できます。 SFT9500 X線集光光学系（キャピラリ）の採用により、実照射0.1mmφの高輝度X線ビームの照射が可能となり、リードフレーム、コネクタ、フレキシブル基板など、微小部の膜厚測定が可能です。