Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 技術情報 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
イベント
スクール
熱分析
Transparent Spacer
走査型プローブ顕微鏡
Transparent Spacer
ICP発光分光・質量分析
Transparent Spacer
蛍光X線分析
Transparent Spacer
膜厚測定
トップイベント情報 > 過去のイベント情報 > イベント情報詳細
Events

2007年05月23日

環境規制物質セミナー2007(名古屋会場)のご案内

 世界の電子・電気業界に大きな影響を与えたEUのRoHS指令は、2006年7月1日に施行され、カドミウム、鉛、六価クロム、水銀、PBB,PBDEの6物質の使用が制限されました。本年3月1日には、中国版RoHSの「電子情報製品汚染予防管理弁法」が施行になり、有害物質の規制は世界へと拡大しています。これら規制物質の試験方法は、IEC(国際電気標準会議) TC 111 WG3において国際的な試験方法の作成が進められておりますが、六価クロムの測定が困難なこともあり、決定にまでは至っておりません。 

  そこで、当社では名古屋市工業研究所前所長の久米道之氏をお招きし、六価クロムの環境規制に対しての問題と対策についての最新情報を提供するセミナーを開催するはこびとなりました。会場では、弊社のRoHSに関連するポスターセッションと、RoHS対策の中心となる蛍光X線分析装置の実機展示も行います。

 多くのご来場を心よりお待ちいたします。

【開催概要】

 
名古屋会場
日時: 2007年7月10日(火) 13:00〜17:00
会場: 安保ホール301号室
地図
定員: 100名
受講料:
無料
セミナー内容: 開場(12:00)

「RoHS/ELV指令における六価クロム問題とその対策」

名古屋市工業研究所

前所長 久米道之 様

「蛍光X線分析によるRoHS分析のノウハウ」
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
分析応用技術部
「ICP発光分光分析によるRoHS分析のノウハウ」
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
分析応用技術部
お申込み:

複数でお申込の場合も〔オンラインフォーム〕は1名様ごとにご入力ください。

[オンラインフォーム]

名古屋会場お申込みフォーム…受付終了

※ 受付が完了した方は、開催日の1週間前より受講票を順次FAXにてお送りいたします。セミナー当日は、受講票を必ずご持参ください。

お問合せ:

エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
営業統括本部 営業一部 営業二課
TEL: 03-6280-0077

名古屋営業所
TEL: 052-935-8595

オンラインお問合せフォーム

   ※1 演題等内容は変更になる場合があります。
   ※2 定員に達し次第、受付を締め切らせていただきますので、お早めにお申込みください。
   ※3申込みの際ご提供いただいた個人情報は本セミナーについてのご連絡、ならびにセミナー内容に関連したご案内に利用させていただきます。当社の個人情報保護の取り組みについては個人情報保護ポリシーをご覧ください。

展示予定装置
蛍光X線分析装置 SEA1000A
RoHS指令の施行により使用禁止されるカドミウム、鉛、水銀等の有害物質を簡単・迅速に非破壊で測定できる専用機です。
詳しくは 矢印こちら
蛍光X線分析装置 SEA1000A 1台でRoHS/ELV対応のスクリーニングから高度な分析までをカバーできる高性能蛍光X線分析装置です。
詳しくは 矢印こちら
蛍光X線分析装置 SEA1000A 従来の蛍光X線膜厚計では照射強度不足で十分な精度が得られなかった、リードフレーム、コネクタ、フレキシブル基板等の微小・薄膜の測定に対応した蛍光X線膜厚計です。
詳しくは 矢印こちら

*環境規制物質セミナー2007 東京・大阪会場
〜中国版RoHSの最新情報〜についてはこちらをごらんください。

SIIホーム
■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.