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2006年8月22日
IMC16（第16回国際顕微鏡学会議）出展のご案内
エスアイアイ・ナノテクノロジーでは、業務提携パートナーであるカール
ツァイスと共同で、9月3日（日）から8日（金）まで札幌で開催されるIMC16（第16回 国際顕微鏡学会議）に参加し、製品展示、デモンストレーションおよび学会発表を行います。
SIIナノテクとカール ツァイスは本年より業務提携を結び、共同で製品開発と販売を手掛けております。IMC16では共同開発により産まれた「NVision
40」を日本で初めて出展するほか、低加速電圧での超高分解能観察や、大電流分析と高分解能イメージの両立を実現したGEMINI鏡筒搭載SEMの「ULTRA55」、またインカラム型オメガフィルター(電子分光器)を備え分析電子顕微鏡として専用設計された新しいタイプのTEM「LIBRA200」の実機も展示します。
会場では実機を用いたデモンストレーションも予定しております。
この機会に、多くの皆様のお越しを心よりお待ちしております。
【IMC16開催概要】
| 会期: |
2006年9月3日(日)〜8日(金) |
| 会場: |
札幌コンベンションセンター
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【SIIナノテクによる発表】
| 日程 |
タイトル |
カテゴリ |
発表者 |
| 9/4(月) |
Critical Dimension Measurement
Using New Scanning Mode and Aligned Carbon Nano
Tube SPM Tip
(Poster Session) |
I-6
Surface Microscopy |
Toshiya Nishimura |
Magnetic Domain Wall Manipulation
using MFM Probe
(Poster Session) |
I-6
Surface Microscopy |
Takehiro Yamaoka |
| 9/5(火) |
Large Area Silicon XRF Detector
for Microanalysis
Applications
(Oral Presentation) |
I-10
Advances in X-ray, CL and other spectroscopies
and
imageing |
Dr. Carolyn Tull
|
Fast Spectrum Imaging Using
a Large Area Silicon
Multi-Cathode Detector (Vortex) in Electron Beam
Microanalysis
(Oral Presentation) |
I-10
Advances in X-ray, CL and other spectroscopies
and
imageing |
Dr. Carolyn Tull |
| 9/8(金) |
Autmated High-quality
TEM Sample Preparation
(Poster Session) |
I-19
FIB and ion-beam techniques |
Yoh
Yamamoto |
TEM Sample Preparation by
Using Ga-FIB/Ar-Ion Beam/SEM Triple Beam Machine
(Poster Session) |
I-19
FIB and ion-beam techniques |
Haruo Takahashi |
【SIIナノテク・カール
ツァイス出展内容】
| ブース: |
ブースNo.1 |
| 出展製品: |
•
NVision 40
SIIナノテクとカールツァイス共同開発によるFIB-SEMクロスビーム装置
• ULTRA55
GEMINI®鏡筒を備え、2次電子による表面構造、ならびに反射電子による組成分布を高分解能観察に優れた電子顕微鏡
• LIBRA®200
インカラム型オメガフィルター搭載の透過電子顕微鏡
• E-sweep
大気・高真空・液中など様々な環境での高分解能測定を実現する、環境制御型プローブ顕微鏡。 |
| セミナー: |
以下の内容でのランチョンセッションを予定しております（各日12:00〜13:00）。
| 9/4 |
E-sweep |
New environment controlled scanning probe
microscope
By Toshiya Nishimura |
| 9/5 |
NVision 40 |
Introducing the next level
of CrossBeam® performance
By Dr. Peter Schlossmacher |
| 9/7 |
ULTRA 55 |
Low kV imaging on basis of Gemini technology
By Heiner Jaksch |
| 9/8 |
LIBRA®200FE |
Energy filtering TEM: technology and applicationw
By Alexander Thesen |
|
| デモンストレーション: |
各日、以下の時間にて、各装置のデモンストレーションを予定しております。
| 装置 |
時間帯 |
| NVision 40 |
13:15〜14:00 |
| ULTRA 55 |
13:15〜14:00 |
| LIBRA®200FE |
14:15〜15:00 |
| E-sweep |
14:15〜15:00 |
|
【お問合せ】
このほか、デモンストレーションのスケジュールついては、以下担当者までお問合せください。
E-mail：kouji.shinozaki@siint.co.jp
hideyuki.takamori@siint.co.jp
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