分析展2010 新技術発表会講演内容 | エスアイアイ・ナノテクノロジー

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SIIナノテクでは、9月1日(水)~3日(金)の分析展会期中、併設会場にて開催される「新技術説明会」にて、以下の講演を行います。当ウェブサイトにて事前申込みを受付けますので、お早めにお申込みくださいますよう、ご案内します。なお、事前申込みをいただいた参加者の方は、当日入場時、優先的にご入室いただけます。

≪第26回分析電子顕微鏡討論会のお知らせ≫

分析展と併催される分析電子顕微鏡討論会にて、「リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEM装置の開発」をテーマに9月1日（水）16時より講演を予定しております。
詳細はこちらからご覧ください。

★選ばれた技術がここにある！★
SIIナノテクは、基礎研究・開発から、電子デバイス分野、環境分析分野、ナノ・バイオ分野にいたるまで、幅広く利用される分析・計測装置を提供しています。今回は、熱分析装置、ICP発光分光分析装置、蛍光X線分析装置、走査型プローブ顕微鏡、電子顕微鏡、集束イオンビーム装置の6つの製品分野において、最新情報をお届けします。

日時	会場	テーマ
9/1(水) 10:30～11:20	A-11	■最新の実用的原子間力顕微鏡アプリケーション半導体デバイス、電池、電気自動車などの分野における、高精度形状観察をはじめ、局所熱分析nano-TA法やキャリア分布計測手法、磁気観察手法などの最新の実用的アプリケーションをご紹介します。
9/1(水) 13:45～14:35	A-10	■蛍光X線分析による極微小異物分析の最先端と次世代膜厚計の紹介安全安心を背景に異物分析の要求が高まる中で、SEA6000VXの微小異物分析タイプの紹介をLiイオン電池の異物分析を中心に行います。膜厚計では、今までとは異なる操作性を追及したSFT-110をご紹介します。
9/2(木) 11:35～12:25	A-11	■究極の名のもとに！”好機能”ICP-OES装置とアプリケーションの最先端より高速、より高精度、より省エネをめざし、進化したICP-OESをご紹介します。時代に応える生産性の向上とユーザーフレンドリーの両立化を実現した装置と最新のアプリケーションもご紹介します。
9/2（木) 14:50～15:40	A-11	■進化した高感度測定と最新熱分析より高感度で高精度な示差走査熱量測定（DSC)と"見える化"を実現した事例を取り上げ、最新熱分析システムEXSTAR（エクスター）7000シリーズとともにご紹介します。
9/3(金) 12:40～13:30	A-11	■次世代グロー放電質量分析装置を中心にNu社の新技術を紹介する。<英語・通訳あり> マルチコレクタICP質量分析で定評のあるニューインスツルメンツ社（Nu社）、次世代のグロー放電質量分析技術を中心に高信頼性の質量分析装置のラインアップをご紹介します。
9/3(金) 14:50～15:40	A-11	■3D分析の世界へようこそ！ -最新のFIB、SEM分析事例紹介- 材料分析分野では、観察対象の内部構造の3D観察が注目されている。GEMINI-SEMの優れた観察能力と、当社FIBシステムによるCut&See機能を用いたメゾスケール構造の3D観察例をご紹介します。

複数のプログラムへの参加を希望される場合は、お手数ですがプログラムごとにお申込みをお願いいたします。各会場へのアクセスについては、こちらよりご覧ください。

【事前登録について】

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お申込締切：2010年8月27日（金）　　
お申込をいただいたお客様へは8月30日（月）よりFAXにて、受講票をお送りいたします。当日は、受講票を受付へお持ちください。

お申込締切日以降につきましては、直接会場へお越しください。
なお、競合他社の方のお申込をお断りする場合がございますので、ご了承ください。

■ お問合せ先
本件に関するご質問は、下記までご連絡ください。
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社営業管理課
TEL：03-6280-0062　FAX：03-6280-0073

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