Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 アプリケーション 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
イベント
スクール
熱分析
Transparent Spacer
走査型プローブ顕微鏡
Transparent Spacer
ICP発光分光・質量分析
Transparent Spacer
蛍光X線分析
Transparent Spacer
膜厚測定
トップイベント情報 > 分析展2010 > 出展製品のご案内
分析展2010

出展製品のご案内

SIIナノテクでは、分析展2010において、以下の製品ならびに関連技術の展示を予定しています。

装置写真または製品名をクリックすると、各製品の製品・技術情報ページへジャンプします。

         
 

New

EXSTAR X-DSC7000

 

New

SFT-110 蛍光X線膜厚計

 
  高感度型示差走査熱量計
  蛍光X線膜厚計  
  EXSTAR X-DSC7000   SFT-110  
 

世界トップレベルの感度とベースライン安定性・再現性を実現。

→製品ラインナップはこちら

 

自動位置決め機能により、めっき膜厚を簡単迅速に測定

→製品ラインナップはこちら

 
         
spacer
 
SEA6000VX 高感度蛍光X線分析装置
 
AttoM 高分解能型ICP質量分析装置
 
  高感度蛍光X線分析装置
  高分解能型ICP質量分析装置  
  SEA6000VX HSFinder   AttoM  
 

有害元素の高速マッピング測定機能を搭載。

→製品ラインナップはこちら

 

英国ニュー インスツルメンツ社製の二重収束型のHR-ICP-MS。

→製品ラインナップはこちら

 
         
 

SPSシリーズ ICP発光分光分析装置

 

走査型プローブ顕微鏡(SPM) 汎用小型ユニット Nanocute

 
  ICP発光分光分析装置

走査型プローブ顕微鏡(SPM)  
  SPSシリーズ   汎用小型ユニット Nanocute  
 

高分解能、高感度測定を実現。塩素からカリウムまでの一斉分析が可能。

→製品ラインナップはこちら

 

手軽な操作を実現する高分解能センサー内蔵型レバーを搭載した汎用小型SPM。

→製品ラインナップはこちら

 
         
 

ΣIGMA(シグマ) カールツァイス社製 走査電子顕微鏡 

 

集束イオンビーム(FIB)装置

 
  カールツァイス社製 走査電子顕微鏡

集束イオンビーム(FIB)装置  
  ΣIGMA (シグマ)   SMI500  
 

低加速イメージングに強い Gemini Column 搭載。 EDS、EBSD、WDSなど接続可能な低価格帯FE-SEM。

→製品ラインナップはこちら


 

ナノ加工顕微鏡システム。シンプル設計により低価格を実現。

→製品ラインナップはこちら

 

<< 分析展2010特集トップ

SIIホーム
■ サイトのご利用について   ■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ  
Copyright © 2012 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.