2009分析展新技術発表会講演内容 | エスアイアイ・ナノテクノロジー

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SIIナノテクでは、9月2日(水)~4日(金)の分析展会期中、併設会場にて開催される「新技術説明会」にて、以下の講演を行います。当ウェブサイトにて事前申込みを受付けますので、お早めにお申込みくださいますよう、ご案内します。なお、事前申込みをいただいた参加者の方は、当日入場時、優先的にご入室いただけます。

「選ばれた技術がここにある！」
SIIナノテクは、基礎研究・開発から、電子デバイス分野、環境分析分野、ナノ・バイオ分野にいたるまで、幅広く利用される分析・計測装置を提供しています。今回は、走査型プローブ顕微鏡、蛍光X線分析装置、電子顕微鏡、集束イオンビーム装置、ICP発光分光分析装置、熱分析装置の6つの製品分野において、最新情報をお届けします。

日時	会場	テーマ
9/2(水) 12:40～13:30	A-10	新世代熱分析登場！DSC7000シリーズ感度と安定性を向上させた最新熱分析システムが、さらに高機能に進化しました。今回はフォトDSCなど、DSC7000シリーズの特徴と新機能を、測定事例を交えてご紹介します。
9/3(木) 11:35～12:25	A-10	蛍光X線分析装置SEAシリーズによる最新アプリケーションの世界蛍光Ｘ線分析装置SEAシリーズを使用した、RoHS、ハロゲン測定、微小領域の高感度測定、高速マッピングなどの多様な最新の測定事例について新製品SEA6000VXを中心にご紹介します。
9/3(木) 13:45～14:35	A-10	「ICP-OESの最新アプリケーション」新たな可能性に挑戦 VUV (130nmからの) 波長を用いた高マトリックス試料の測定、安定した高塩濃度試料の測定、試料導入の困難な揮発性有機溶媒の測定、高塩濃度中の微量濃度測定など限界に挑戦した測定手法についてご紹介します。
9/4（金) 10:30～11:20	A-10	簡単迅速！ナノ加工顕微鏡システム SMI500/Carl Zeiss GEMINI FE-SEMシリーズの紹介簡単操作で使いやすいエスアイアイ・ナノテクノロジーのナノ加工顕微鏡システム"SMI500"とドイツ Carl Zeiss NTS社製"GEMINI FE-SEMシリーズ"の技術及び応用データ事例を同時紹介します。
9/4(金) 12:15～12:40	N-2	Nu Instruments: 最先端技術を用いた質量分析におけるニューウェイ＜英・通訳あり＞最先端技術を用いたAttoM（HR-ICP-MS）をはじめとした世界最高性能の製品が、新たな視野を皆様に提供します。
9/4(金) 14:50～15:40	A-10	最新のSPM装置を使いこなす！アプリケーションに応じた探針の選び方や測定ノウハウ、環境を制御してできるだけ真に近いナノ表面物性を探索する試み、究極の操作性を提供する新製品Nanocuteをご紹介します。

複数のプログラムへの参加を希望される場合は、お手数ですがプログラムごとにお申込みをお願いいたします。各会場へのアクセスについては、こちらよりご覧ください。

【事前登録について】

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お申込締切：2009年8月28日（金）　　
お申込をいただいたお客様へは8月31日（月）よりFAXにて、受講票をお送りいたします。当日は、受講票を受付へお持ちください。
なお、競合他社の方のお申込をお断りする場合がございますので、ご了承ください。

■ お問合せ先
本件に関するご質問は、下記までご連絡ください。
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社営業企画課
TEL：03-6280-0062

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