SIIナノテクでは、8月29日〜31日の分析展会期中、併設会場にて開催される「新技術説明会」にて、以下の講演を行います。
当ウェブサイトにて事前申込みを受付けますので、お早めにお申込みくださいますよう、ご案内します。 なお、事前申込みをいただいた参加者の方は、当日入場時、優先的にご入室いただけます。

日時	会場	テーマ・概要	申込み
8/29(水) 11:35〜12:25	A-9	走査型プローブ顕微鏡の最新情報 ナノインプリントやマイクロレンズのような立体の高精度計測に有効なSPM用アキュレートスキャナを搭載した新製品L-trace�Uを紹介する。 また環境制御SPMによる高分子材料、電子デバイスへの応用例や、強磁場印加オプションなどの新機能についても説明する。
8/29(水) 12:40〜13:30	N-2*	中国版RoHSはこうやって測る 中国版RoHSの施行により、蛍光X線分析の役割はますます高まった。 XRFに要望される感度や時間短縮に応える技術の紹介と測定の難しいサンプルの応用例を紹介しつつ、蛍光X線分析の可能性を示す。
8/29(水) 14:50〜15:40	A-11	カールツァイス Gemini FE-SEM マイクロアナリシスではSEMから得られる像情報が分析の方向性の手助けとなる。 。カールツァイス Geminiシリーズ FE-SEMにより像に多彩なコントラストで多くの情報を提供し、より早く、より小さい領域からの分析例を紹介する。
8/30（木) 10:30〜11:20	A-9	トリプルビームによる最新TEM試料作製技術 新製品、SEM、FIB、Ar鏡筒を備えた『XVision300/200TBシリーズ』を紹介する。 FIB装置を用いたTEM試料作製技術は既に浸透しているが、更なるTEM試料高品位化への要望に対する試料作製技術の最新事情についても紹介する。
8/31(金) 11:35〜12:25	A-7	中国版RoHSのICP-OES測定テクニック 本年3月に施行された中国版RoHSの試験方法はIEC案を参考にしているが幾つかの方法に違いがある。これらの方法を比較し、実データから それらの手法を紹介する。また、蛍光Ｘ線とICP-OESの役割についても解説する。
8/31(金) 14:50〜15:40	A-10	最新熱分析の展開 高感度測定を実現した最新の熱分析システムを紹介する。 熱分析はさまざまな分野で利用されており、今回はDSC、TG/DTAを中心に、各分野における測定事例を挙げ、最新熱分析の有用性を紹介する。

複数のプログラムへの参加を希望される場合は、お手数ですがプログラムごとにお申込みをお願いいたします。


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