エスアイアイ・ナノテクノロジーでは、2006分析展において、以下の製品をご紹介します。

カールツァイスの世界最高峰技術。 走査電子顕微鏡 ULTRA55 二次電子による表面構造、ならびに反射電子による組成分布を高分解能観察することができます。特に低加速電圧で高いコントラストの反射電子像が観察できます。

プローブ顕微鏡 NanoNaviシリーズ クローズドループスキャナ、SISモードなどの最新機能への対応により、高分解能な測定を可能にしたプローブステーションです。ナビゲーション機能、自動測定機能の充実により、使いやすさも向上しました。

業界最高水準を誇る。RoHS、ELV規制物質対応   高感度蛍光X線分析装置 SEA1200VX エレメントモニタ 組成が複雑な試料に対する測定時間を大幅に短縮させることが可能となります。さらに、真空雰囲気下での測定が可能なため、軽元素測定にも対応しており、金属、鉱物、ガラス、樹脂などさまざまな材料の成分分析を行うことができます。

業界最高水準の検出感度を誇る。微小部対応。   高性能蛍光X線膜厚計SFT9500 高計数率、かつ高分解能の半導体検出器の搭載により、めっき製品の膜厚測定に加え、欧州RoHS＆ELVで規制されている有害物質の、微小部における測定にも対応できます。

世界最高水準の測定速度を実現   ICP発光分光分析装置 SPS5500シリーズ 高速測定を実現するCCD（電荷結合素子）検出器であるV-chipを搭載しました。装置校正の最適化、ならびに機能充実のオプションとソフトウェアを取りそろえることで、高速、高感度分析と測定の安定性、使いやすさを実現しました。

凌駕する性能。   ICP質量分析装置 SPQ9600/9700 新技術CRI（コリジョンリアクションインターフェイス）を搭載することにより、ホットプラズマ条件でそれらの分子イオンの除去を実現し、高感度な分析を可能としています。環境分析や、半導体関連素材などの材料中の極微量分析にといて、高い威力を発揮します。

熱分析・粘弾性システム EXSTARシリーズ EXSTARシリーズは、オートサンプラ（DSC・TGA/DTA）・各種冷却ユニット・湿度制御ユニット等、目的に合わせて拡張することが可能であり、あらゆる熱物性評価にご利用いただけるシステムです。

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