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試験所（物理試験）
蛍光X線膜厚計測は、薄膜の厚さを測定する計測器のため、その値が正しいものであることを保証する必要があります。 装置・標準物質の検定は認定を受けている試験所に依頼することが、好ましい姿です。 エスアイアイ・ナノテクノロジーは2002年10月にJAB（財団法人日本適合性認定協会）より、試験所としての認定を受け、 国際的に認定された試験結果を提供することが可能になりました。 当試験所の認定範囲はJABの「機械・物理試験厚さ測定」のうち、「質量法」に基づく蛍光X線測定で認定を受けたものです。
↑
JAB（日本適合性認定協会）認定証
代表的な薄膜の認定範囲
元素の種類
下限(µm)
上限(µm)
元素の種類
下限(µm)
上限(µm)
Ti
0.1
15
Ni
0.1
35
Cu
0.1
40
Zn
0.1
40
Pd
0.1
20
Ag
0.1
70
Sn
0.1
70
Pt
0.05
7
Au
0.05
7
Pb
0.1
15
メッキの種類
下限(µm)
上限(µm)
Fe上のZn
0.1
40
Cu上のAg
0.1
70
Cu上のSn
0.1
70
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【お問合せ】
試験所に関するお問合せ：
物理試験 TEL: 0550-76-3344（代表）
化学試験 TEL: 03-6280-0068
標準サンプルの購入に関するお問合せ：
エポリードサービス株式会社
フリーダイヤル: 0120-987-233
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