【ナノテクノロジー アプリケーションブリーフ】
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走査型プローブ顕微鏡（SPM）

集束イオンビーム装置（FIB/SIM）

走査型プローブ顕微鏡（SPM） SPI No.67 位相測定によるポリスチレン/ポリブタジエンブレンド材のモルフォロジー観察 SPI No.66 AFMスクラッチによる氷の融解 SPI No.65 原子間力顕微鏡による氷の観察 SPI No.64 FIB加工面の低加速Arイオンビーム仕上げによる低ダメージ効果のSPMによる検証 SPI No.63 SPMによるハイアスペクト形状測定　-マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測- SPI No.61 水平磁場印加オプションによるMRAM評価への応用 SPI No.60 鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ／基板の界面構造観察 SPI No.59 燃料電池への応用 SPI No.58 ナノスケール磁性体の磁区構造の神秘な世界 SPI No.57 単一磁壁の質量決定と低電流誘起共鳴駆動 SPI No.56 ナノ磁石中の束縛されていない単一磁壁の高分解能MFM観察 SPI No.55 六角格子ネットワークの高分解能MFM観察 SPI No.54 温度制御型SPMを用いたポリ乳酸の結晶成長観察 SPI No.53 2軸延伸PETフィルムの表面移転温度測定 SPI No.52 押出し形成PETシートの表面転移温度測定 SPI No.47 走査型プローブ顕微鏡によるSAMの分子像観察 SPI No.46 走査型プローブ顕微鏡によるカラーネガフィルム薄膜層の観察 SPI No.45 カラーネガフィルムバックコートのLM-FFM観察 SPI No.44 ポリプロピレンブロックコポリマーのガラス転移現象その場観察 SPI No.43 水中における毛髪の表面形状観察 SPI No.42 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンの結晶ラメラ観察 SPI No.41 フイルム状高分子材料の真空下における構造変化の観察 SPI No.40 銀フィラー入りポリイミドフィルムの温度依存性の観察 SPI No.39 スチレン･ブタジエン･スチレンブロック共重合体のミクロ相分離構造の観察 SPI No.38 フリクショナルカーブによる定量的摩擦特性評価 �U SPI No.35 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンブロックコポリマーのモルフォロジー観察 SPI No.34 ポリマーブレンド試料の表面物性総合解析 SPI No.33 SPMによるアドヒージョン測定（吸着力分布測定） SPI No.30 外部磁場印加によるパーマロイ薄膜の真空中磁気力顕微鏡（MFM）測定 SPI No.29 位相検出法による磁気力顕微鏡（MFM）測定 SPI No.28 Co細線における磁壁のピン止め状態のMFM観察 SPI No.27 連結したCo円盤に生じる磁気渦のMFM観察 SPI No.26 Coドット及びアンチドット格子の残留磁化状態のMFM観察 SPI No.25 SPMによる液中AFM測定 SPI No.24 隕石中の磁性物質のMFM観察 SPI No.23 MFMによるパーマロイ薄膜の磁区観察 SPI No.21 Moパーマロイ微粒子格子のMFM観察 SPI No.20 MFM（Magnetic Force Microscope） 〜 磁気力顕微鏡の紹介 SPI No.19 ポリスチレンとゴムの成型品表面のLM-FFM観察 SPI No.18 顔料と溶剤の混合した塗膜のLM-FFM観察 SPI No.17 ポリゴムとポリプロピレンの混合物のLM-FFM観察 SPI No.16 プラスチック（PBT・ABSブレンド）表面のLM-FFM観察 SPI No.15 フッ素樹脂塗膜のLM-FFM観察 SPI No.14 FFM（摩擦力顕微鏡）とLM-FFM（横振動摩擦力顕微鏡）について SPI No.13 金属酸化膜のKFM観察 SPI No.12 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御VE-AFM測定 SPI No.11 ポリスチレン・シート上油膜のVE-AFM観察 SPI No.10 LB膜のVE-AFM観察 SPI No.09 SPMによる位相測定 SPI No.06 生きたガン細胞の直接観察 SPI No.05 ラット繊毛切片のDFM観察 SPI No.04 コラーゲン細繊維のDFM観察 SPI No.03 走査型プローブ顕微鏡によるヒト赤血球のDFM観察 SPI No.02 走査型プローブ顕微鏡によるプラスミドDNAの観察 SPI No.01 SPM概要 NPX No.20 超精密加工における加工面評価手法について（Nanopics） NPX No.16 オプションソフトを使用した薄膜評価（Nanopics） NPX No.12 金属仕上げ加工条件の違いによる表面形状の差異（ボールベアリングの溝（Nanopics） NPX No.11 薄膜硬度計の圧痕（Nanopics） NPX No.09 研削・研磨面形状評価（Nanopics） NPX No.03 Nanopics(AFM）を用いた工程評価（Nanopics）

集束イオンビーム装置（FIB/SIM） SMI No.12 SIM像の特徴 SMI No.11 FIBによる断面加工・観察技術 SMI No.10 ナノピンセットシステムによるTEM観察用試料のIn-situ試料ハンドリング SMI No.08 厚み管理ソフトの紹介 SMI No.06 斜め加工によるTEM試料作製 SMI No.05 トリプルビーム装置によるFIBダメージ層除去 SMI No.04 HRTEM観察用新型メッシュ“ナノメッシュ”の紹介 SMI No.02 Cut&See Proの紹介 FIB No.07 精密金型作製への応用 FIB No.02 FIBによる微細加工 FIB No.01 3Dナノ構造物の作製